X射線熒光光譜儀（以下簡稱XRF）作為快速的、無損的元素檢測方法,，可以對固體,、粉末、液體,、薄膜和不規(guī)則樣品進行元素的定性定量分析,。
日本理學X射線熒光光譜儀
由于XRF具有元素測定范圍廣（Be~U），可測含量范圍寬（ppm~100%）,、并可進行多元素同時分析和結果重現(xiàn)性好等優(yōu)點,，在固體樣品的元素分析應用廣泛。
針對液體樣品,，特別是水溶液樣品,，常見的分析方法即將液體樣品置于特制的樣品杯中，采用麥拉膜（或其他高分子膜）密封樣品,，在He氣氛中采用X光對液體樣品進行分析,。這種方法如果操作不當導致液體滲漏會對儀器造成一定的傷害，而且由于高分子膜的存在,，對輕元素的分析也比較困難,。
本文介紹采用日本理學XRF使用水溶液分析用微載體膜對水溶液中離子濃度進行測試的方法，可對ppm級離子濃度進行分析,。
在油氣田勘探,、開發(fā)和生產(chǎn)過程中會產(chǎn)生大量的油氣田水。油氣田水中含有各種陰陽離子,，還常含有有機質(zhì)，成分復雜,。
對于油氣田水中這些離子的測定常采用離子色譜,、原子吸收、化學滴定法和ICP-OES法,。但是這些方法分析過程相對繁瑣,、耗時,。而采用日本理學XRF使用水溶液分析用微載體膜測定油氣田水中離子的方法更環(huán)保、快速和準確,。
該方法建立時,，可直接將購置的標準溶液稀釋成不同濃度的溶液。使用移液槍取定量液體樣品,，轉(zhuǎn)移到日本理學水溶液分析用微載體膜上,，在干燥器或者真空干燥箱中干燥后，直接在XRF中進行測試并繪制成工作曲線,，再對油氣田水中離子濃度進行測定,。
日本理學水溶液分析用微載體膜
這種方法比直接照射液體樣品操作更簡捷、更安全,，并且沒有基體效應,，檢出限低?？梢杂檬忻嫔铣Ｒ姷臉藴嗜芤鹤鳛闃藴蕵悠?，建立定量分析曲線，解決了XRF中標樣獲取難的問題,，進一步提高方法的準確度,。
對于該方法，在微載膜上滴加的體積越大,，溶液中元素檢出限越低,。而對于鹽度較高的液體，則需要考慮濾紙干燥后元素的分布是否均勻,，是否會有結晶現(xiàn)象,，來確定最佳的液體樣品量。
此外,，該方法是針對元素分析,，無法確定水溶液中離子的價態(tài)。
另外,，為了進一步降低水溶液中離子的檢出限,，日本理學可提供水溶液分析用超載體膜。使用超載體膜,，多數(shù)元素的檢出限能達到ppb級,。
日本理學水溶液分析用微載體膜
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