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理學ZSX PrimusIII+波長色散X射線熒光光譜儀在MLCC中的應用

閱讀:1996      發(fā)布時間:2023-7-22
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在鈦酸鋇生產(chǎn)過程中,,非常重要指標鋇鈦摩爾比,,簡稱鋇鈦比。鋇鈦比直接影響鈦酸鋇的四方度,,進而影響鈦酸鋇的介電常數(shù)和絕緣電阻,。對于高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體,鋇鈦比的控制精度要求高,,一般控制精度要求小于0.001,。通常用化學滴定法檢測出BaTiO3BaOTiO2的含量,就可計算Ba/Ti的摩爾比,。但化學滴定法的精確程度只有0.002左右,,且操作人員和環(huán)境對誤差的影響大,不能滿足鈦酸鋇Ba/Ti摩爾比的要求,。可借助儀器設(shè)備(ICP-OES)精確測量BaTi的元素含量,,再計算Ba/Ti摩爾比。ICP微量元素準確測試設(shè)備,,但需把樣品制備成液體,,前處理需稀釋幾百上千倍過程易帶來作誤差,,且費時費力,,不能滿足用戶時效性

X射線熒光光譜分析技術(shù)擁有高精密度,、高準確性,、制樣簡單、可一次性報出所需目標元素結(jié)果,,是解決以上難題的最jia選擇,,被越來越多的MLCC企業(yè)所采用,。該方法的理論檢測精度達到0.0001-0.0003,wan全滿足鈦酸鋇檢測的要求,。

日本電子材料工業(yè)協(xié)會標準規(guī)格EMAS對鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比標準如下:

EMAS-4202

采用玻璃熔片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法

EMAS-4203

采用壓片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法

圖片

EMAS行業(yè)標準制定中,,共有15家鈦酸鋇生產(chǎn)廠家參與制定其中,,13家使用的是理學的設(shè)備對鈦酸鋇中Ba/Ti摩爾比檢測,,其檢測精度都在千分之一以下,能滿足企業(yè)對高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體Ba/Ti摩爾比控制要求,。

理學公司的X射線熒光光譜儀掃描道ZSX Primus III+對鈦酸鋇粉末質(zhì)量管理,,鈦鋇比標準偏差(摩爾比)~10-4根據(jù)實測結(jié)果,,ZSX Primus III+的精度在0.0002~0.0003,。

圖片

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產(chǎn)品特點:
14KW大功率高頻X射線發(fā)生器,;
2,、采用30μm超薄鈹窗膜大幅度提高檢測靈敏度;
3,、上照式方式確保粉末樣品測試的安全可靠性,;
4儀器內(nèi)部平行雙真空室提高分析穩(wěn)定性,;
5,、全中文定性、定量分析,、維護管理軟件,;
6對未知樣品的無標樣分析—New SQX軟件,。


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