XRF與ICP-OES的區(qū)別
在實際生產、研發(fā)的過程中常常需要對未知物成分進行分析,，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分,，幫助實驗人員對樣品進行定性定量分析和鑒別。
目前,，常見的成分分析設備：XRF和ICP,，本文將為大家講述這兩者的區(qū)別。
X射線熒光光譜儀（XRF）
XRF指的是X射線熒光光譜儀,，一種可以同時對多元素進行快速測定的儀器,。
基本原理：初級X射線與樣品表面原子核外電子相互作用，發(fā)生能級躍遷后發(fā)射出特征X射線,。
特征X射線是一種電磁波,，同時具備能量和波長兩種特性。由于每個元素的特征X射線能量和波長固定且唯YI,，通過探測器探查樣品中元素特定的能量或者特定角度的熒光輻射,，即可獲得樣品中的組成元素,。同時，樣品中元素的特征X射線強度與其在樣品中的濃度有關,，根據元素特征X射線強度,，可獲得各元素的含量信息。
能量色散型X射線熒光光譜儀——EDX4500H
根據測定重點的不同,，X射線熒光光譜儀又分為兩種：
能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF或EDX）,，通過測定特定X射線的能量分析被測樣品的組成成分；
波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF或WDX）,，通過測定特定X射線波長的能量分析被測樣品的組成成分,。
波長色散型X射線熒光光譜儀——ZSX Primus III+
WDXRF與EDXRF的區(qū)別
1.WDXRF用晶體分光后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號，EDXRF則采用半導體探測器與多道分析器分辨特征X射線信號,；
2.EDXRF檢測范圍較窄,，從Na~U，WDXRF元素檢測范圍廣,，從Be~U全元素分析,；
3.EDXRF體積小，價格相對較低,，檢測速度較快,；WDXRF比EDXRF分辨率高，檢出限好,，精度高,，穩(wěn)定性好，價格較高,。
XRF的優(yōu)缺點
優(yōu)點：
1. 分析速度快,，一般2~5min內完成樣品中元素的檢測；
2. 非破壞性,，在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,，也不會出現試樣飛散現象；
3. 同一試樣可反復多次測量,，結果重現性好,；
4. 分析精密度高；
5. 固體,、粉末,、液體樣品等都可以進行分析，檢測范圍從ppm~100%,。
缺點：
1. 標樣與待測需匹配,，獲取較難；
2. 對輕元素的靈敏度較低,；
3. 基體效應,、礦物相效應,、粒度效應等都會對檢測產生影響；
4. XRF是表面成分分析,，故樣品必須滿足表面平整,，成分均勻才能獲得好的結果。
電感耦合等離子體發(fā)生光譜儀
（ICP-OES）
ICP-OES其前身為ICP-AES（電感耦合等離子體原子發(fā)射譜儀）,。
基本原理：物質在高頻電磁場所形成的高溫等離子體中有良好的特征譜線發(fā)射,，用半導體檢測器檢測這些譜線能量，然后參照同時測定的標準溶液,，即可計算出試液中待測元素的含量。
電感耦合等離子體發(fā)生光譜儀（ICP-OES）
ICP-AES測試的有效波長范圍是120-800nm,，原子發(fā)射光譜的所有相關信息都集中在這個范圍內,。其中，120-160nm波段尤其適用于分析鹵素或者某些特殊應用的替代譜線,。由于ICP發(fā)射光譜技術用到了越來越多的離子線,，所以現在改叫OES了。
一般情況下,，ICP-AES主要測試液體樣品,，因為測樣時需要將樣品溶解在特定的溶劑中（一般就是水溶液）。PS：樣品必須保證澄清,，含有顆粒,、懸濁物可能堵塞內室接口或通道。
ICP-OES大部份元素的檢出限為1～10ppb,，一些元素也可得到亞ppb級的檢出限,。
ICP-OES的檢測元素如下圖：
ICP-OES的優(yōu)缺點
優(yōu)點：
1. 可以同時快速地進行多元素分析；
2. 靈敏度較高,，每毫升亞微克級,；
3. 基體效應低，較易建立分析方法,；
4. 標準曲線具有較寬的線性動態(tài)范圍,；
5. 可無任何譜線缺失的全譜直讀；
6. 可同時分析常量（低濃度）和痕量組分,；
7. 具有良好的精密度和重復性,。
缺點：
1. 樣品為液態(tài)，是破壞性檢測,；
2. 樣品需經由強酸高溫長時間或者高壓等消化步驟,，變成液體樣品；
3. 需處理ICP-OES在前處理中產生的廢水廢氣,，以及檢測過程中產生的廢氣,；
4. 由于前處理使用強酸高溫處理,，因此，對應安全防護措施要求高,。
XRF與ICP-OES的區(qū)別
1. XRF為無損分析,，ICP-OES為有損分析；
2. XRF樣品前處理簡單,，ICP-OES需要通過濕法將樣品制備成液體,；
3. XRF優(yōu)勢在于常量元素檢測，ICP-OES則在痕量元素檢測更優(yōu),；
4. XRF的標樣匹配要求嚴格,，但采用標樣制作標準曲線成功后可長期使用；ICP-OES標樣獲取較簡單,，但在測試前需要對所測元素建立標準曲線,；
5. XRF是檢測物質中各種氧化物和元素的含量以及成分分析，ICP一般應用于溶液中化合物離子的含量分析,。
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