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膜厚分析儀根據(jù)測量原理可以分為這幾種類型

閱讀:1882      發(fā)布時(shí)間:2022-8-19
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   膜厚分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
  1,、磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量,。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳,。此種方法測量精度高
 
  2,、渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量,。此種方法較磁性測厚法精度低
 
  3,、超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,個(gè)別有這樣的儀器,,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合,。
 
  4、電解測厚法:此方法有別于以上三種,,不屬于無損檢測,,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高,,測量起來較其他幾種麻煩,。
 
  膜厚分析儀的性能特點(diǎn):
  滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;
 
  小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求,;
 
  移動平臺可定位測試點(diǎn),,重復(fù)定位精度小,;
 
  采用高度定位激光,,可自動定位測試高度;
 
  定位激光確定定位光斑,,確保測試點(diǎn)與光斑對齊,;
 
  鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn),;
 
  高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,;
 
  良好的射線屏蔽作用;
 
  測試口高度敏感性傳感器保護(hù),。
 
  膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器,。能快速,、無損傷、精密地進(jìn)行涂,、鍍層厚度的測量,。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè),、金屬加工業(yè),、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域,。

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