鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。鍍層測厚儀廣泛地應用于制造業(yè),、金屬加工業(yè),、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域,。是材料保護的專業(yè)儀器。
原理：
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞,。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成,。
鍍層測厚儀在使用過程中需要注意哪幾個方面：
1,、對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì),，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。
2,、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,。
3、不應在緊靠試件的突變處,，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量,。
4,、不應在試件的彎曲表面上測量。
5,、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,，表面粗造時更應如此。
6,、測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì),，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
8
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務