鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。鍍層測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用于制造業(yè),、金屬加工業(yè),、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域,。是材料保護(hù)的專業(yè)儀器,。
原理：
鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái),。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞,。同時(shí),，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測(cè)厚儀在使用過(guò)程中需要注意哪幾個(gè)方面：
1,、對(duì)于磁性方法,，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對(duì)于渦流方法,，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2,、檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,。
3、不應(yīng)在緊靠試件的突變處,，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
4,、不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量,。
5、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。
6、測(cè)量前,，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。
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