鍍層厚度測試
鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。
檢測方法有 1. 金相法 2. 庫侖法 3. X-ray 方法,。
各方法適用范圍
Scope 1. 金相法：
采用金相顯微鏡檢測橫斷面,，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法,。一般厚度檢測需要大于 1um,，才能保證測量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大,，誤差越小,。
2. 庫侖法：
適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系,，如 Cu/Ni/Cr 以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度,。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差,。測量鍍層的種類為 Au、Ag,、Zn,、Cu、Ni,、dNi,、Cr。
3. X-ray 方法：
適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度,。 包括：金（Au）,，銀（Ag），錫（Sn）,，銅（Cu）,，鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,，或同時測量三層組分的厚度和成分,。
測試原理 Principle
1.金相法：
利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大,，以便準確的觀測及測量,。
2.庫侖法：
利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質(zhì)上*溶解,，經(jīng)過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度,。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同,。用恒定電流密度溶解時,，可由試驗開始到試驗終止的時間計算；用非恒定電流密度溶解時,，由累積所耗電量計算,，累積所耗電量由電量計累計顯示。
3. X-ray 方法：
X 射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色 X 射線與基體和覆蓋層的相互作用,。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知,，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系,。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,，同時又給出實際的密度,，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。
樣品要求 Sample requirement
1. 金相法：
鍍層照片由于金相法測樣 品的厚度為局部厚度,，對于一些厚度不一致 的樣品,，需要客戶告知具體部位。如沒有 特殊要求,，我們將自行取一個較均勻的部 位進行測量,。
2. 庫侖法：
目前我們只能測平面的鍍層厚度，樣品需要至少一個 5mm2平面,。
3.X-ray 方法：
其面積至少大于 0.05×0.25mm
參考文件 Reference
1. GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法
2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section
3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)
4. GB/T4955-1997 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量
5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X 射線光譜方法
6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry
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