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日本日立 手持式光譜儀
X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,，可提供快速無損的分析以及準確的牌號識
別,，實現(xiàn)理想的質(zhì)檢和質(zhì)保,。
該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結(jié)合在一起,，能夠為客戶提供各種質(zhì)量檢驗 應用,。
借助 X-MET8000,，您可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì)檢 結(jié)果，并降低檢測成本,，縮短檢測時間,。
分析結(jié)果值得您信任
X-MET8000 *美結(jié)合了通用的基本參數(shù) (FP) 方法和經(jīng)驗 系數(shù)法（可溯源的標準物質(zhì)），可提供超高的分析精密度 和準確度,。
性能優(yōu)異
該分析儀提供對輕元素（Mg 到 S）的出色分析,，可快 速測試大多數(shù)商業(yè)用合金，包括鋁合金,、硅和鋁青銅 等,。其提供低檢測限制，可準確區(qū)別相近牌號（例如 303-304,、6061-6063）,，并可在數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質(zhì) 檢結(jié)果。
易于操作
直觀的圖標驅(qū)動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任 何培訓,。該分析儀擁有便于快速制定決策的可自定義 結(jié)果屏幕,，同時顯示您所需的重要信息。
該分析儀具備輕便性（1.5 千克）,，采用了符合人體工 學的設(shè)計,，因此操作舒適，適合日常使用,。屏幕方便 操作員閱讀,，即使在陽光直射下也不受影響，且可在 穿戴手套的情況下操作,。
準確
樣品尺寸自動補償,，可準確測試直徑小至 1 毫米的管材、 桿體,、線材,，以及焊縫、緊固件,、車削下腳和碎屑等,。
日本日立 手持式光譜儀
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