M4型全譜直讀光譜儀全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)結(jié)合,,運用高分辯率CMOS檢測器,,精密設(shè)計的氬氣吹掃系統(tǒng),使儀器具有高性能,、低成本,、以及竟?fàn)幜Φ膬r格,。
M4型全譜直讀光譜儀
M系列全譜直讀光譜儀采用的設(shè)計和制造工藝技術(shù),全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)結(jié)合,,運用高分辯率CMOS檢測器,,精密設(shè)計的氬氣吹掃系統(tǒng),使儀器具有高性能,、低成本,、以及竟?fàn)幜Φ膬r格。
M4型全譜直讀光譜儀
M4應(yīng)用于多基體的,、高性能的全譜直讀光譜儀
01 極其優(yōu)異的分析性能,、非常緊湊的儀器結(jié)構(gòu)
02 用于多種基體、多種材料的分析,,分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素,,可以滿足絕大多數(shù)現(xiàn)代鑄造業(yè)的應(yīng)用需求。
03 高亮度全息光柵具備3600條/mm高刻線,,使得分光系統(tǒng)具有高的分辯率,。
04 氬氣吹掃光室配置了優(yōu)化設(shè)計的低流速吹氬系統(tǒng),既保證低的使用成本又保證*的紫外區(qū)的透過率,。
05 應(yīng)用高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng),,更低的暗電流、更好的檢出限,、更高的穩(wěn)定性,、更強的靈敏度。
06 全數(shù)字化的智能復(fù)合光源DDD技術(shù),,充分滿足不同基體,、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。
07 一體式開放火花臺,,可以滿足各種不同樣品結(jié)構(gòu)的分析,。
08 配置多條工廠校正曲線及更多的材料分析方法和良好的解決方案。
09 可根據(jù)用戶的材料要求,,延長標(biāo)準(zhǔn)曲線的測量上,、下限。
精密設(shè)計的氬氣吹掃系統(tǒng)
光室密封性強,,可保持內(nèi)部氬氣長期純凈,。
光室空間優(yōu)化設(shè)計,降低氬氣消耗,,有效節(jié)約產(chǎn)生成本,。
低氬氣吹掃系統(tǒng),確保光室UV波段測量環(huán)境,。
光室充氬免除復(fù)雜的真空系統(tǒng),。
高分辯率CMOS檢測器實現(xiàn)全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素,,滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區(qū)檢測,,對N的分析檢測更準(zhǔn)確,。
可有效選擇元素靈敏線,保證分析的準(zhǔn)確度,。
多峰擬合技術(shù),,有效消除譜線干擾,實現(xiàn)精準(zhǔn)測量,。
分析軟件功能強大
1) 基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件,,方便實用;
2) *管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報告輸出能力,;
3) 儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及良好解決方案,;
4) 軟件實現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾,、扣暗電流、背景和噪聲的算法,,提高儀器的分析能力,;
5) 完備的自動系統(tǒng)診斷功能;
6) 完善的數(shù)據(jù)庫管理功能,,可方便查詢,、匯總數(shù)據(jù);
7) 智能校正算法,,保證儀器穩(wěn)定可靠,;
8) 完備的譜線信息和干擾扣除算法,保證儀器分析更為精準(zhǔn),;
9) 適應(yīng)的Windows操作系統(tǒng),。
應(yīng)用領(lǐng)域
主要技術(shù)參數(shù)
項目 | M4 |
檢測基體 | 多基體 |
光學(xué)系統(tǒng) | 帕型-龍格結(jié)構(gòu) |
光室結(jié)構(gòu) | 充氬循環(huán)方式 |
波長范圍 | 165-580nm(可擴展) |
光柵焦距 | 300mm |
光柵刻線 | 3600條/mm |
探 測 器 | 多CMOS檢測器 |
光源類型 | 可編程脈沖數(shù)字光源 |
儀器尺寸 | 714*558*270 |
儀器重量 | 40Kg |