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DRL-III導熱系數(shù)測試儀（熱流法）

•  熱流法導熱系數(shù)測試儀?概述

本儀器主要測試薄的熱導體,、固體電絕緣材料,、導熱硅膠，硅脂,、樹脂,、橡膠、氧化鈹瓷,、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù),。檢測材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料,。

儀器參考標準：MIL-I-49456A（絕緣片材,、導熱樹脂,、熱導玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導熱系數(shù)測定方法）,；ASTM D5470-12（薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準）等,。

 熱流法導熱系數(shù)測試儀?儀器特點：帶自動加壓，自動測厚裝置,，并連計算機實現(xiàn)全自動控制,。儀器采用6點溫度梯度檢測，提高了測試精度,?？蓹z測不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學模型,，可測量材料導熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個參數(shù),。

廣泛應用在高等院校，科研單位,，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導熱分析檢測,。

• 主要參數(shù)

 DRL-2A導熱系數(shù)測試儀（熱流法）
一,、 概述
    本儀器主要測試薄的熱導體,、固體電絕緣材料、導熱樹脂,、氧化鈹瓷,、氧化鋁瓷等細小材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀,，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料,。
儀器參考標準：MIL-I-49456A（絕緣片材、導熱樹脂,、熱導玻纖增強）,；GB 5598-85（氧化鈹瓷導熱系數(shù)測定方法）；ASTM-D5470-12（薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準）等,。
廣泛應用在大中院校,，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測,。
二,、 主要參數(shù) 
1． 試樣大小：直徑Φ30mm圓片,，或?qū)蔷€30mm的正方形樣,。
2． 試樣厚度：0.02-20mm
3． 熱極溫度范圍：室溫-95℃ 或  室溫-180℃任選；
4． 導熱系數(shù)測試范圍：0.05～20 W/m*k
5． 熱阻測試范圍：0.05～0.00001m2*K/W
6． 壓力范圍：0～1000N
7． 位移范圍：0～30.00mm
8． 測試精度：
a,、 DRL-2A（室溫-95℃）優(yōu)于3％
b,、 DRL-2A（室溫-180℃）優(yōu)于4％
9． 實驗方式：a、均質(zhì)材料檢測,。b,、復合材料檢測。
10． 連接計算機全自動測試,，數(shù)據(jù)處理,，并可生成檢測報告打印輸出。 

外形尺寸約700*600*1500mm,，毛重約150公斤,。

儀器配置：DRL-2A導熱系數(shù)測試儀主機1臺；測試軟件（含通信接口）1套,；需方自備電腦及打印機,。 

DRL-2B導熱系數(shù)測試儀（熱流法）
一、 概述
本儀器主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料,、導熱樹脂,、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等細小材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù),。檢測材料為固態(tài)片狀,，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準：MIL-I-49456A（絕緣片材,、導熱樹脂,、熱導玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導熱系數(shù)測定方法）,；ASTM-D5470-12（薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準）等,。
廣泛應用在大中院校，科研單位,，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料分析檢測,。
二、 主要參數(shù) 
1． 試樣大?。?le;Φ30mm
2． 試樣厚度：0.02-20mm
3． 熱極溫度范圍：100-500℃
4． 導熱系數(shù)測試范圍：0.01～50 W/m*k
5． 熱阻測試范圍：0.05～0.00001m2*K/W
6． 壓力范圍：0～1000N
7． 位移范圍：0～30.00mm
8． 測試精度：優(yōu)于5％
9． 實驗方式：a,、均質(zhì)材料檢測。b,、復合材料檢測,。
10． 連接計算機全自動測試，數(shù)據(jù)處理,，并可生成檢測報告打印輸出,。