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牛津CMI760 PCB銅板測(cè)厚儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌Hitachi/日立

廠商性質(zhì)其他

所在地上海市

更新時(shí)間:2025-03-10 20:26:24瀏覽次數(shù):2147次

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價(jià)格區(qū)間 1千-5千
牛津CMI760 PCB銅板測(cè)厚儀可用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量。

牛津CMI760 PCB銅板測(cè)厚儀

英國(guó)牛津CMI760 PCB銅板測(cè)厚儀商品介紹:

CMI760可用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度,。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量,。

CMI760是臺(tái)式儀器,,適用于測(cè)量不同表面的銅厚度,,并集成易于更換的SRP4探頭以防止破損,。 可選附件可用來保證測(cè)量印刷電路板孔上的Cu涂層。 整個(gè)系統(tǒng)的可擴(kuò)展性,,使用微電阻和渦流的能力,,高精度的結(jié)果使CMI760成為一個(gè)非常先進(jìn)和強(qiáng)大的工具。

CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析,。SRP-4探頭:SRP系列探頭應(yīng)用先進(jìn)的微電阻測(cè)試技術(shù),。測(cè)量時(shí),通過厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值,,而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響,。 可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速,、簡(jiǎn)便地更換,,將停機(jī)時(shí)間縮至zui短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì),。CMI760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊,。另行訂購的探針模塊以三個(gè)為一組。另外,,系繩式的SRP-4探頭 采用結(jié)實(shí)耐用的連接線和更小的測(cè)量覆蓋區(qū)令使用更為方便,。

 CMI700的*優(yōu)勢(shì):當(dāng)測(cè)試不同的鋼鐵時(shí),機(jī)器不需要再進(jìn)行調(diào)校,。由于磁性的不同頻繁的調(diào)校需要經(jīng)常對(duì)機(jī)器進(jìn)行清楚,,舉例來說——鋼鐵上鍍鋅、鎘,、或銅,。 CMI 700的設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)的原理,同時(shí)可以適應(yīng)復(fù)雜惡劣的工作環(huán)境,。大型的液晶顯示器的顯示角度很寬,,使用戶不必拘泥于屏幕前的正對(duì)區(qū)域進(jìn)行測(cè)量操作。用戶可使用位于顯示器的右側(cè)和下側(cè)的箭頭來進(jìn)行簡(jiǎn)便的

微電阻技術(shù)
微電阻技術(shù)通過讀取由SRP-4探針和樣品之間的4個(gè)接觸點(diǎn)產(chǎn)生的電信號(hào)來測(cè)量Cu涂層的厚度,。 SRP-4探頭采用4個(gè)針腳,,采用技術(shù),確保高測(cè)量精度,,占地面積小,。 引腳由高強(qiáng)度和耐用的合金制成。
在探頭和樣品接觸時(shí),,恒定電流穿過兩個(gè)外部引腳,,測(cè)量?jī)蓚€(gè)內(nèi)部引腳之間的電壓降,。 使用歐姆定律,電壓降與電阻相關(guān),,并且Cu的厚度被計(jì)算為電阻的實(shí)際函數(shù)。

主機(jī)技術(shù)規(guī)格:

存儲(chǔ)量:8000 字節(jié),,非易失性

尺寸:11 1/2 英寸(長(zhǎng))× 10 1/2 英寸(寬)× 5 1/2 英寸(高)(29.21× 26.67× 13.97 厘 米)

重量:6 磅(2.79 千克)

單位:通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換 單位轉(zhuǎn)換:可選擇mils ,、µm、µin,、 mm,、in或%作為顯示單位

接口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),,用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)

顯示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示 屏,,480(H) × 32(V) 象素統(tǒng)計(jì)顯示:測(cè)量個(gè)數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,,平均值,, zui大值,zui小值 統(tǒng)計(jì)報(bào)告(需配置串行打印機(jī)或PC電腦下 載):存儲(chǔ)位置,,測(cè)量個(gè)數(shù),,銅箔類型,線 形銅線寬,,測(cè)量日期/ 時(shí)間,,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,,方差百分比,,準(zhǔn)確度,zui高值,,zui 低值,,值域,CPK 值,,單個(gè)讀數(shù),,時(shí)間 戳,直方圖

圖表:直方圖,,趨勢(shì)圖,,X-R 圖

 

SRP-4 探頭介紹及規(guī)格:

1、SRP-4探頭介紹SRP-4配有用戶可更換的頭部,。 更換簡(jiǎn)單方便,,減少了儀器本身的損壞所造成的停機(jī)時(shí)間。 更換一個(gè)頭比替換整個(gè)探頭便宜得多,。 該儀器還帶有一個(gè)額外的頭,。 額外的頭三個(gè)包裝,。

2、SRP-4 探頭規(guī)格:

準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 µm)參考標(biāo)準(zhǔn)片

度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %,;電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.3 % 

分辨率:0.01 mils > 1 mil, 0.001 mils < 1 mil, 0.1 µm > 10 µm, 0.01 µm < 10 µm, 0.001 µm < 1 µm 

測(cè)量厚度范圍:銅:10 µin - 10 mil (0.25 µm - 254 µm),,

線形銅線寬范圍:8 mil - 3000 mil (203 µm - 76.2 mm)

 ETP探頭介紹及規(guī)格:

1、ETP探頭:ETP探頭利用感應(yīng)電流技術(shù),,指示穿過印刷電路的孔中的銅厚是否符合規(guī)范,。無論構(gòu)成印刷電路板的層數(shù)如何,探針都可以進(jìn)行的測(cè)量,。在多層和單層電路板上以及在池塘或錫鉛電阻下均可正常工作,。此外,ETP探頭還使用溫度補(bǔ)償技術(shù),,即使在印刷新印刷電路板時(shí)也能確保的測(cè)量,。
TRP探頭:使用TRP探頭,CMI760可以準(zhǔn)確分析36個(gè)不同點(diǎn)的鍍銅厚度,。這個(gè)獲得的36點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)通過檢測(cè)是否存在不均勻的斷裂和鍍層,,確保了高精度

2、ETP 探頭規(guī)格

準(zhǔn)確度:± 0.01 mil (0.25 µm) < 1 mil (25 µm)

度:1.2 mil 時(shí),,1.0% (典型情況下)

分辨率:0.01 mils (0.25 µm)

電渦流:遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

測(cè)量厚度范圍:0.08 - 4.0 mils (2 - 102 µm)

孔zui小直徑:35 mils (899 µm)

TRP-M (微型探頭) 介紹及規(guī)格

1,、TRP探頭:使用TRP探頭,CMI760可以準(zhǔn)確分析36個(gè)不同點(diǎn)的鍍銅厚度,。 這個(gè)獲得的36點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)通過檢測(cè)是否存在不均勻的斷裂和鍍層,,確保了高精度

2、TRP-M (微型探頭)規(guī)格

孔直徑范圍:10 mils – 40 mils(254 – 1016 µm)

zui小厚度:13 mils with 10 mil hole (330.2 µm with 254 µm hole)

電渦流:遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

測(cè)量厚度范圍:0.08 - 4.0 mils (2 - 102 µm)

孔zui小直徑:35 mils (899 µm)

捷克諾頓K6-C多功能涂鍍層測(cè)厚儀

捷克諾頓K6-C多功能涂鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品用途:(根據(jù)選擇不同的探頭傳感器

CHY-CA薄膜測(cè)厚儀

CHY-CA薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量原理,,嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行測(cè)量

牛津CMI243鍍層測(cè)厚儀

牛津CMI243鍍層測(cè)厚儀是一款專門為測(cè)量磁性金屬上的(如鋅,、鎳等)涂

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