天瑞金屬鍍層膜厚測厚儀器廠

型號：Thick 800A  X熒光 鍍層測厚儀

賣點：(提供主要賣點以及這個賣點的詳細說明）

1.電鍍行業(yè)者           

2.可分析高5層25種元素鍍層

3實現(xiàn)對多鍍層樣品的精準(zhǔn)分析

4.方便用戶觀測樣品狀況

5.針對不規(guī)律測樣品檢測

技術(shù)指標(biāo)

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。 
SDD探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金,，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè),。

天瑞金屬鍍層膜厚測厚儀器

thick8000 是天瑞儀器*新款的上海電鍍層厚度測試儀,，三維移動平臺和高清射線系統(tǒng),，使整個測試更加精確、清晰,。上海電鍍層厚度測試儀是天瑞儀器的優(yōu)勢產(chǎn)品,，打破了國 外壟斷的局面，主要用于金屬鍍層——鍍金,，鍍鎳,，鍍鋅，鍍錫,，鍍銅,，鍍銀，鍍銠,，鍍鈀等厚度的檢測,，廣泛應(yīng)用在電器電器、五金工具,、汽車配件,、高壓開關(guān)、 制冷設(shè)備,、精密五金,、電鍍加工、衛(wèi)浴,、PCB線路板等企業(yè).

分析含量：一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：*小孔徑達0.1mm,*小光斑達0.1mm

SDD探測器：分辨率低至135eV

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度：小于0.1um

同時檢測元素：*多24個元素,，多達5層鍍層

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭 

準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合 

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃ 

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

天瑞金屬鍍層測厚儀器

若一個電子由軌道游離,，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩(wěn)定的狀態(tài),，此種不同能階轉(zhuǎn)換的過程可釋放出能量,，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同,，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同,。

下 述可描述X-射線熒光的特性：若產(chǎn)生X-射線熒光是由于轉(zhuǎn)移一個電子進入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離,，另一個電子即代替他的地位,，此稱之為K 輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量,，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射,，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區(qū)別的,。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域,，此種輻射稱為L輻射,。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射,，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 ,。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%,，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區(qū)分的,。

原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目,，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系,。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差,。

特定的X-射線可由比例計數(shù)器來偵測,。當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波,。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比,。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

使用X-射線熒光原理測厚,，將被測物置于儀器中,，使待測部位受到X-射線的照射。此時,，特定X-射線將由鍍膜,、素材及任何中間層膜產(chǎn)生,，而檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號,，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度,。