Thick800A鍍層測厚檢測儀適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系,，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度,。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差,。測量鍍層的種類為Au、Ag,、Zn,、Cu,、Ni、dNi,、Cr,。

X-ray 方法：

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au）,，銀（Ag）,，錫（Sn），銅（Cu）,，鎳（Ni）,，鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系,，或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分,。

鍍層測厚檢測儀技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素,，五層鍍層,。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),，探測器和X光管上下可動(dòng),，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器。
信號(hào)檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金,，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

適用法規(guī)
? 歐洲,、中國,、日本,、韓國RoHS/Weee 指令
? 八大重金屬美國ASTM、歐洲EN-71,、中國GB 6675－2007
? 美國消費(fèi)產(chǎn)品安全法CPSIA/CPSC,、美國EPEAT、美國GEC
? 美國消費(fèi)品安全改進(jìn)法案H.R. 4040,。
? 美國無鹵指令Halogen Free Directive
? 測試兒童(非金屬)產(chǎn)品中總鉛含量標(biāo)準(zhǔn) USA CPSC-CH-E1002-08
? 美國玩具安全法ASTM

? 美國電子產(chǎn)品環(huán)境評(píng)估辦法(EPEAT)

? 美國消費(fèi)品安全規(guī)范Act 16 CFR 1303(CPSIA/CPSC)

? 美國電子產(chǎn)品環(huán)境評(píng)估辦法(EPEAT)
? 美國消費(fèi)品安全規(guī)范Act 16 CFR 1303(CPSIA/CPSC)