價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 多道型 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
天瑞儀器環(huán)保RoHS掃描儀 RoHS掃描儀價(jià)格?技術(shù)特點(diǎn)
驚人的檢測(cè)速度,。工作3秒種即可顯示樣品中的有害物質(zhì)含量,通常45~60即可,。
·攝像頭定位樣品,,很小的樣品也能對(duì)位,即使象頭發(fā)絲這樣的微小樣品也能測(cè)試,。
·精確度高,,重復(fù)性好。
·開(kāi)機(jī)無(wú)需預(yù)熱,,無(wú)需液氮制冷,,運(yùn)行成本低。
·全自動(dòng)測(cè)試平臺(tái),,操作簡(jiǎn)單,。
·合金、聚合物,、塑料,、混合物、PVC等自動(dòng)識(shí)別材料,。無(wú)需預(yù)先知道材料類(lèi)型,。
·超大樣品室,適用產(chǎn)品廣泛,。
·樣品無(wú)特殊要求,,液體、固體,、粉末,、灰漿,、過(guò)濾物,實(shí)核體,,碎片,,微粒,袋裝皆可,。
·采用工業(yè)級(jí)產(chǎn)品設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),,適應(yīng)各種不同工作環(huán)境。
·全封閉機(jī)箱設(shè)計(jì),,安全可靠
·測(cè)試結(jié)果清晰顯示,,PPM,光譜或波峰強(qiáng)度,。
· 可檢測(cè)多種材料如合金,、聚合物、塑料,、混合物等,。
天瑞儀器環(huán)保RoHS掃描儀 RoHS掃描儀價(jià)格
電子合金模式 (Electronic Alloy Mode),快速分析金屬元素成分
● 塑膠模式 (Plastics Analysis Mode),,測(cè)試塑料中有宮元素合量,,無(wú)鹵測(cè)試
● 涂層模式 (Pb-Paint Mode),測(cè)試產(chǎn)品表面漆涂層鉛元素含量
● 全自動(dòng)模式 (Test All Mode),,可供混合樣品測(cè)試,,如PCB板、成品電路板,,供測(cè)試未知樣品元素成分或樣品元素成分較復(fù)雜使用,。
實(shí)時(shí)有效的貭量篩選及品貭管理
作為功能zui全的機(jī)型,分析速度更快,,可應(yīng)用在生產(chǎn)的每個(gè)環(huán)節(jié):
● 對(duì)供貨商來(lái)料進(jìn)行快速檢測(cè)
● 在線監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程
● 終端產(chǎn)品品貭管控
可選配CCD照相機(jī),,實(shí)時(shí)對(duì)測(cè)量區(qū)域進(jìn)行拍照。*小點(diǎn)瞄準(zhǔn)分析模式(選配)可將投射在測(cè)樣品上的X光縮小至直徑3mm,。在此功能下,,儀器可精確的將X射線瞄準(zhǔn)在較小待測(cè)面積上,不受周?chē)渌锲返母蓴_,,從而準(zhǔn)確,、快速的得出檢測(cè)結(jié)果。
科技:提高效率,、節(jié)省時(shí)間
Thick800A鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法,,包括測(cè)量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度,,還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,,尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類(lèi)為Au,、Ag,、Zn、Cu,、Ni,、dNi、Cr,。
X-ray 方法:
適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),,銀(Ag),,錫(Sn),銅(Cu),,鎳(Ni),,鉻(Cr)等金屬元素厚度。
本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系,,或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分,。
產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置
鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)