X熒光鍍層測(cè)厚儀

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,，可全自動(dòng)軟件操作,，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),，以及移動(dòng)平臺(tái),。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時(shí)可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測(cè)器,。
信號(hào)檢測(cè)電子電路,。
高低壓電源。
X光管,。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè),。

能量色散X熒光光譜儀

產(chǎn)品說(shuō)明,、技術(shù)參數(shù)及配置

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確,、無(wú)損分析,。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si,、P,、S、Al,、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni,、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析,，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用,。
另外,，在合金分析、全元素分析,、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛,。
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管
數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快,，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS,，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器,，良好的能量線性,、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素,，對(duì)Si,、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響,，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,，使元素間的吸收,、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓,、管流、真空度）一目了然
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素,，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末,、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè),、全元素分析,、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素）