天瑞儀器X射線熒光光譜儀的基本原理介紹
X射線熒光分析技術(shù)作為一種快速分析手段,,為我國的相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供了一種可行的,、低成本的,、并且是及時的,,檢測,、篩選和控制有害元素含量的有效途徑,;相對于其他分析方法(例如:發(fā)射光譜,、吸收光譜、分光光度計,、色譜質(zhì)譜等),,XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速,、方便,、測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。
X射線熒光光譜儀的基本原理:
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成,。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),,激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性,。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。
用X射線照射試樣時,試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度,以進行定性和定量分析,,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀,。