目錄:蘇州泰蘭德電子有限公司>>花崗石/大理石檢測平臺>>00級大理石/花崗石/花崗巖平臺>> 00級花崗巖拋光機底座
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,電子/電池,鋼鐵/金屬,制藥/生物制藥 |
---|
00級花崗巖拋光機底座
00級花崗巖拋光機底座 采用優(yōu)質(zhì)“濟南青”石料經(jīng)機械加工和手工精磨制成,。大理石平臺從切割定型,,粗研磨到進恒溫室細(xì)研磨,前后要求精度高,,溫度適宜,。大理石平臺適用于精度要求高的測量方面。大理石平臺檢測法是一種積木式的檢測方法,,它在大理石平臺上通過某些量具,、量儀和輔助工具的組合,實現(xiàn)測量目的,。大理石平臺檢測一般為相對測量,。通過某些設(shè)備按一定的幾何管線組合形成測量所需的標(biāo)準(zhǔn)量,與被測量進行比較,,測出被測量與標(biāo)準(zhǔn)量的差值,,從而得到被測量實際值。
大理石平臺檢測所用設(shè)備分為三類,。
1,、大理石平臺檢測法通用量具:量塊、角度塊,、刀口尺,、大理石直角尺、大理石平尺等,。
2,、大理石平臺檢測法通用量儀:千分尺、千分表,、百分表,、測微表等。
3,、大理石平臺檢測法輔助工具:大理石平臺,、圓柱、鋼球,、方鐵(大理石方箱),、V形鐵、大理石表座等,。
根據(jù)相對測量工具的不同,,大理石平臺檢測分為指示器法和光隙法兩種。
1,、指示器法:指示器法是以指示表(百分表,、千分表或測微表)將被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸進行比較,,測出被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸之差的一種方法。測量時用大理石平臺工作面作為測量基面,,按一定的布點方式,,用指示表逐點測量并記錄讀數(shù),然后按一定的方法評出平面度誤差值,。原則上應(yīng)采用小區(qū)域法評定平面度誤差,,但是在實際檢測中經(jīng)常采用近似的評定方法,一種方法是在測量前,,調(diào)整被測實際表面上相距遠(yuǎn)的三點距大理石平臺等高,,然后在被測表面上均勻劃線布點逐點進行測量并記錄數(shù)據(jù),取各測點中的大讀數(shù)值與小讀數(shù)值之差,,作為被測的平面度誤差值,,此法稱為三點法。
對角線法和三點法都不符合小條件,,所以評定出的誤差值均大于按小區(qū)域法評定出的誤差值,,但是,由于這兩種方法檢測方便且經(jīng)濟實用,,所以仍被實際測量所采用,,如發(fā)生爭議,應(yīng)以小區(qū)域法評定的結(jié)果作為仲裁依據(jù),。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)