面向挑戰(zhàn)性應用的高級數(shù)碼顯微鏡攝像頭（數(shù)碼顯微鏡相機DP75）

使用功能強大的DP75數(shù)碼顯微鏡攝像頭，讓您的顯微鏡檢查更加高效,。這款高性能工具專為各種應用定制,，可讓您捕捉高分辨率明場、暗場,、混合(明場和暗場),、偏振、DIC,、熒光和近紅外(NIR)觀察*圖像,。

*需要用于近紅外觀察的顯微鏡系統(tǒng)--數(shù)碼顯微鏡相機DP75

具有挑戰(zhàn)性的檢測應用的成像

更清晰和精que

DP75數(shù)字顯微鏡攝像頭可提供清晰,、低噪音的檢測圖像。

改進的多軸色彩校正技術可提供出色的色彩保真度,，實現(xiàn)逼真的再現(xiàn),，以及印刷材料、LCD濾色片和其他應用所需的RGB色彩再現(xiàn)性,。

  打印紙的圖像

高分辨率下的快速幀速率

憑借超過4k分辨率下22 fps的快速幀速率和全高清分辨率下60 fps的快速幀速率,，您可以在快速移動的同時檢查實時圖像，從而加快您的檢測和分析工作流程,。

                                     晶片的圖像

低放大率下的高分辨率圖像

攝像機的像素移動功能使得即使在低放大倍數(shù)下也能捕捉高分辨率圖像,，最da分辨率為8192 × 6000，使您能夠在檢測報告中添加更多視覺細節(jié),。

無像素偏移(左)和有像素偏移(右)

由于DP75相機使用USB 3.1 Gen2,，它與大多數(shù)PC兼容，可以很容易地作為當前系統(tǒng)的升級來購買,。

快速找到缺陷

樣品的外觀會因材料質量,、表面條件或照明方法而異。為了準確顯示樣品,，相機的實時高動態(tài)范圍(HDR)結合了在不同曝光下拍攝的幾幅圖像,，以校正樣品表面的亮度差異。實時HDR提供了高保真圖像,，不僅顯示了紋理,，還顯示了以前無法檢測到的瑕疵和缺陷。眩光也減少了更舒適的觀察,。

  通過HDR去除光暈                                                                  通過HDR的紋理增強

                                (示例:印刷電路板(PCB))                                                           (示例:印刷電路板(PCB))

DP75攝像機在使用0.63倍攝像機適配器(紅色框架)時的視野,，與DP74(舊款)攝像機在使用0.63倍攝像機適配器(藍色框架)時的視野相比較。

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攝像機的寬視野(FN 26.5)使您能夠快速觀察大面積區(qū)域,，使您的檢查更快,、更有效。

使用相同的顯微鏡攝像頭輕松實現(xiàn)熒光到紅外成像

DP75相機設計用于各種應用，集成了許多優(yōu)點,，包括高靈敏度冷卻CMOS傳感器和可切換紅外(IR)截止濾光片,。好處包括:

*覆蓋廣泛的波長范圍:DP75支持從可見光到1000納米的波長，使您能夠捕捉高質量的明場,、暗場,、混合(明場+暗場)、偏振,、DIC,、熒光和NIR*觀察圖像。

*噪聲極低的清晰熒光圖像:即使熒光很弱,，也能捕捉到高質量的圖像,，這對檢測抗蝕劑殘留物等應用很有幫助。

*需要顯微鏡系統(tǒng)進行近紅外觀察

半導體晶片上光刻膠殘余物的混合(熒光+暗場)觀察圖像

一部分礦物的偏振觀察圖像

柔性板的明視場觀察圖像,。

柔性板的近紅外觀察圖像,。

數(shù)碼顯微鏡相機DP75