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直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

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  • 所在地 蘇州市
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更新時(shí)間:2023/05/30 15:41:47瀏覽次數(shù):1210

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直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680,,電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案,,通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

詳細(xì)介紹

直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

為電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案,通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能,,驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序,、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)
● 支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn),。搭載BDV(絕緣擊穿電壓)測(cè)量功能,。

直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680

基本參數(shù)(精度保證時(shí)間1年)

主要功能

直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試,、絕緣擊穿電壓測(cè)試,、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能,、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能"表)

功能一覽聯(lián)鎖,、GFI、自動(dòng)放電,、消除偏移,、測(cè)試中改變?cè)O(shè)定電壓、瞬時(shí)輸出,、命令監(jiān)控,、I/O HANDLER、按鍵鎖定,、自檢,、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW(遠(yuǎn)程控制)
使用溫濕度范圍0°C~40°C,,80% RH或以下(無結(jié)露)
適合標(biāo)準(zhǔn)安全性:IEC 61010                
EMC:IEC 61326
電源電壓AC 100 V ~ 240 V

功耗

約180 VA※                
※ 電源條件為電源電壓220 V,、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試,、測(cè)試電壓2.5 kV,、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ)的情況下。

最大額定功率

800 VA

接口

通訊:USB,,LAN,,EXT. I/O

選件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000)

存儲(chǔ):U盤

尺寸·重量

305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物)
10.0 kg ± 0.2 kg

附件

電源線,,CD-ROM(PDF:使用說明書,,通訊使用說明書),,EXT.I/O用公頭連接器,EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具,,啟動(dòng)指南

各測(cè)試·功能

直流耐壓測(cè)試輸出電壓:DC 0.010 kV ~ 8.000 kV(1 V分辨率)
                 負(fù)載變動(dòng):± 1% 以下
                 輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 20 V)
                 輸出電流/截止電流:100 mA max
                 電流精度:3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg.
                 最小分辨率:0.001 μA
                 測(cè)試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,,Continue(Timer OFF)
                 電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
                 短路電流200 mA 以下
                 測(cè)試模式W→IR,,IR→W,,程序測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試輸出電壓:DC 10 V ~ 2000 V(1 V分辨率)
                 輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 2 V)
                 電阻值顯示范圍:10.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率)
                 精度保證范圍:10.00 kΩ ~ 99.99 GΩ
                 電阻精度:±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*詳情參考下部表格
                 測(cè)試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
                  電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,,OFF
絕緣擊穿電壓測(cè)試測(cè)試方法:連續(xù)升壓測(cè)試,,逐級(jí)升壓測(cè)試
                 測(cè)量內(nèi)容:絕緣擊穿電壓(kV),絕緣擊穿的強(qiáng)度(kV/mm)
                 設(shè)定內(nèi)容:初始電壓,,結(jié)束電壓,,升壓速度,ARC檢測(cè),,電極間距離,,電流上限值
波形顯示功能波形顯示內(nèi)容:電壓,電流,,絕緣電阻
                 采樣速度:500 kS/s
                 分辨率:256 K words
ARC放電檢測(cè)功能檢測(cè)方式:監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng)
                 設(shè)定內(nèi)容:測(cè)試電壓變動(dòng)率1%~50%
存儲(chǔ)功能

·波形·圖形
保存到U盤
保存格式:BMP,、PNG、CSV文件


·面板保存功能
將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中
直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式:最多64個(gè)
程序測(cè)試:最多30個(gè)(最多50步)
絕緣擊穿電壓測(cè)試:最多10個(gè)


·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
測(cè)量值保存在內(nèi)存,,最多32000個(gè)

判定功能(判定輸出)

判定為PASS,,判定為FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL)
UPPER_FAIL:測(cè)量值>上限值
PASS:上限值≥測(cè)量值≥下限值
LOWER_FAIL:測(cè)量值<下限值

絕緣電阻測(cè)量精度(精度保證測(cè)試電壓范圍:50 V ~ 2000 V)

10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ~ 999.9 MΩ
1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ
±(20% rdg.)
*2, *3, *4
100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ
±(5% rdg.)
*2, *3, *4
1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
±(2% rdg. + 5 dgt.)
*2, *3, *4
10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
±(1.5% rdg. +3 dgt.)
*2, *3, *4
100 μA ≦ I ≦ 30 mA10.00 kΩ ~ 99.99 kΩ
100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
±(1.5% rdg. +3 dgt.)
*2, *3, *4
1 mA ≦ I ≦ 100 mA10.00 kΩ ~ 99.99 kΩ320W×155H×480D mm,18kg
注記※1:在最大額定500 VA范圍內(nèi)
※2:當(dāng)測(cè)試電壓為10 V~99 V時(shí),,測(cè)量精度加算±10%
※3:當(dāng)測(cè)試電壓為100 V~999 V時(shí),,測(cè)量精度加算±5%
※4:當(dāng)測(cè)試電壓為1000 V~2000 V時(shí),測(cè)量精度加算±2%


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