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當前位置:
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[供應]光學鍍膜橢偏儀
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  • 光學鍍膜橢偏儀
貨物所在地:
江蘇蘇州市
更新時間:
2024-01-22 21:00:05
有效期:
2024年1月22日 -- 2024年7月22日
已獲點擊:
107
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(聯(lián)系我們,,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝!)

產品簡介

光學鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入,,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術,,包括消色差補償器,、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等,??蓱糜诟鞣N各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析,。

詳細介紹

名   稱:光學鍍膜橢偏儀

型   號:ME-L

品   牌:頤光

 

在手機蓋板中的應用

光學鍍膜就好比女士化妝,,不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮,,也可以起到抗氧化,、耐酸堿等作用,所以在如今這個“看臉”的時代,,蓋板的光學鍍膜是非常重要的,,目前常見的包括AR、AF,、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應用,。

 光學鍍膜橢偏儀蓋板光學鍍膜痛點分析

1、AR膜透過率不合格NG

2,、顏色膜調色困難,,周期長。

3、量產過程產品不穩(wěn)定,,存在色差,。

橢偏儀在光學鍍膜各階段的作用

造成蓋板光學鍍膜產品不良的主要因素在于:

A;仿真設計調用材料折射率與鍍膜生產中實際材料折射率不符,。

B,;鍍膜設備實際鍍層厚度與膜系設計要求不符,。

C,;量產過程對鍍膜設備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。

橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子,,為蓋板量產保駕護航,。

1:膜系設計——膜層實際折射率的標定

★鍍膜實際折射率的影響因素:供氧量、真空度,、電子槍光斑大小,、溫度等

★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學常數和薄膜厚度,因此通過鍍膜機在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2,、TiO2,、Nb2O5、In薄膜,,可直接準確測量獲得薄膜的光學常數,。

★通過調整鍍膜機參數,以橢偏儀測量獲得的單層SiO2,、TiO2,、Nb2O5、In薄膜光學常數為反饋,,將薄膜材料光學常數調整至狀態(tài),。此時對應的鍍膜機參數即為厚度鍍膜時所需設定的終參數。

2:工藝研發(fā)——鍍膜設備tolling校正

★通常來說,,鍍膜機通過晶振來控制鍍膜厚度,,而實際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足,導致實際鍍膜厚度與設定鍍膜厚度存在較大偏差,。在鍍膜機中,,可通過工具因子(Tooling值)控制鍍膜機的蒸鍍速率,進而可對實際鍍膜厚度進行調控,。

★橢偏儀可以準確測量獲得薄膜的厚度,,因此可用于校正鍍膜機的工具因子(Tooling值),使實際鍍膜厚度與設定鍍膜厚度*,。

3,;量產監(jiān)控——實時監(jiān)測各項鍍膜指標

★鍍膜膜厚是否在設計范圍。

★材料折射率有無顯著波動,。

★透過率是否滿足工藝需求,。

★色度值是否滿足工藝需求,。

★反射率是否滿足工藝需求。

 

售后服務:

1,、廠家貨源*

   貨源有保障,,可以根據客戶不同測試需求,提供不同測試方案,。

2,、關于售后

   4小時電話響應,24小時內安排*,。終生維護,。

3、關于發(fā)貨

   到款4-5天內到貨,,江蘇,、深圳區(qū)域第二天可以到貨。

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