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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
名 稱：光學(xué)鍍膜橢偏儀
型 號(hào)：ME-L
品 牌：頤光
在手機(jī)蓋板中的應(yīng)用
光學(xué)鍍膜就好比女士化妝,，不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮,，也可以起到抗氧化,、耐酸堿等作用，所以在如今這個(gè)“看臉”的時(shí)代,，蓋板的光學(xué)鍍膜是非常重要的,，目前常見的包括AR、AF,、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用,。
光學(xué)鍍膜橢偏儀蓋板光學(xué)鍍膜痛點(diǎn)分析
1、AR膜透過率不合格NG
2,、顏色膜調(diào)色困難,，周期長。
3,、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定,，存在色差。
橢偏儀在光學(xué)鍍膜各階段的作用
造成蓋板光學(xué)鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于：
A,；仿真設(shè)計(jì)調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實(shí)際材料折射率不符,。
B；鍍膜設(shè)備實(shí)際鍍層厚度與膜系設(shè)計(jì)要求不符,。
C,；量產(chǎn)過程對(duì)鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評(píng)估手段。
橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子,，為蓋板量產(chǎn)保駕護(hù)航,。
1：膜系設(shè)計(jì)——膜層實(shí)際折射率的標(biāo)定
★鍍膜實(shí)際折射率的影響因素：供氧量、真空度,、電子槍光斑大小,、溫度等
★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學(xué)常數(shù)和薄膜厚度，因此通過鍍膜機(jī)在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2,、TiO2,、Nb2O5、In薄膜,，可直接準(zhǔn)確測量獲得薄膜的光學(xué)常數(shù),。
★通過調(diào)整鍍膜機(jī)參數(shù),，以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2,、Nb2O5,、In薄膜光學(xué)常數(shù)為反饋，將薄膜材料光學(xué)常數(shù)調(diào)整至狀態(tài),。此時(shí)對(duì)應(yīng)的鍍膜機(jī)參數(shù)即為厚度鍍膜時(shí)所需設(shè)定的終參數(shù),。
2：工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正
★通常來說，鍍膜機(jī)通過晶振來控制鍍膜厚度,，而實(shí)際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足,，導(dǎo)致實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機(jī)中,，可通過工具因子（Tooling值）控制鍍膜機(jī)的蒸鍍速率，進(jìn)而可對(duì)實(shí)際鍍膜厚度進(jìn)行調(diào)控,。
★橢偏儀可以準(zhǔn)確測量獲得薄膜的厚度,，因此可用于校正鍍膜機(jī)的工具因子（Tooling值），使實(shí)際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*,。
3,；量產(chǎn)監(jiān)控——實(shí)時(shí)監(jiān)測各項(xiàng)鍍膜指標(biāo)
★鍍膜膜厚是否在設(shè)計(jì)范圍。
★材料折射率有無顯著波動(dòng),。
★透過率是否滿足工藝需求,。
★色度值是否滿足工藝需求。
★反射率是否滿足工藝需求,。
售后服務(wù)：
1,、廠家貨源*
貨源有保障，可以根據(jù)客戶不同測試需求,，提供不同測試方案,。
2、關(guān)于售后
4小時(shí)電話響應(yīng),，24小時(shí)內(nèi)安排*,。終生維護(hù)。
3,、關(guān)于發(fā)貨
到款4-5天內(nèi)到貨,，江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨,。