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菲希爾XDLM-PCB系列 X射線熒光鍍層測厚儀,，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級,、耐用型測量儀,。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號,，以此造就了高精度的測量,。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點,，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力,。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
菲希爾XDLM-PCB系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級,、耐用型測量儀。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號,，以此造就了高精度的測量,。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要,，為您節(jié)省時間和精力,。
菲希爾XDLM-PCB系列 X射線熒光鍍層測厚儀
依靠FISCHER所采用的的*基本參數(shù)法，可以在沒有標準片校正的情況下分析固,、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度,。
XDLM-PCB 220配備了可電動切換的多種準直器和基本濾片,，讓每次測量都可以在的條件下進行，滿足各種測量需求,。
XDLM-PCB 220是用戶界面友好的臺式測量儀器,。測量門底部留有空隙，以方便對大面積印制電路板的測量,。儀器樣品定位簡便,，配備了高精度、可編程的XY平臺,，并帶有彈出功能,。激光點作為輔助定位，能幫助快速對準測量位置,。配備了高分辨率彩色攝像頭,，使得對準測量位置的過程更加準確、簡便,。
XDLM-PCB 220配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,，提供三擋可選高壓，3種可切換基本濾片,。
可按照客戶要求,，提供額外的XDLM-PCB型產(chǎn)品更改和XDLM-PCB儀器技術(shù)咨詢。