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MD-1型粉塵粒度分析

一,、產(chǎn)品介紹

本產(chǎn)品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測,，能準(zhǔn)確測定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀,，測定結(jié)果自動儲存,，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結(jié)果通過顯示屏或打印機輸出,。儀器具有掉電保護功能,，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

主要用于實驗室測定粉塵粒度分布,。

二,、產(chǎn)品參數(shù)

（1）粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm。測定粉塵累積質(zhì)量篩上分布,，粉塵粒度分級為
150µm,、100、80µm,、60µm,、50µm、40µm,、30µm,、20µm,、10µm、8µm,、7µm,、6µm、5µm,、
4µm,、3µm、2µm,、1µm,。
（2）測定誤差：d＜40µm時，粉塵粒度分布重復(fù)測定誤差≤10%,；
（3）工作電源：220VAC,。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg,。

三,、產(chǎn)品特點

（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準(zhǔn)確測定粉塵粒度分布,。
（2）讀數(shù)直觀,，測定結(jié)果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇,，把結(jié)果通過顯示屏或打印機輸出,。
（3）儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù),。

并且給的是顆粒圖像的直觀數(shù)據(jù),，容易理解。但其缺點是樣品制備過程會對結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響,，如樣品制備的分散性,，直接會影響電鏡觀察質(zhì)量和分析結(jié)果。電鏡取樣量少,，會產(chǎn)生取樣過程的非代表性,。

適合電鏡法粒度分析的儀器主要有掃描電鏡和透射電鏡。普通掃描電鏡的顆粒分辨率一般在6nm左右,，場發(fā)射掃描電鏡的分辨率可以達到0.5nm。

掃描電鏡對納米粉體樣品可以進行溶液分散法制樣,，也可以直接進行干粉制樣,。對樣品制備的要求比較低，但由于電鏡對樣品有求有一定的導(dǎo)電性能,，因此,，對于非導(dǎo)電性樣品需要進行表面蒸鍍導(dǎo)電層如表面蒸金,，蒸碳等。一般顆粒在10納米以下的樣品比較不能蒸金,，因為金顆粒的大小在8納米左右,，會產(chǎn)生干擾的，應(yīng)采取蒸碳方式,。

掃描電鏡有很大的掃描范圍,，原則上從1nm到mm量級均可以用掃描電鏡進行粒度分析。而對于透射電鏡,，由于需要電子束透過樣品,，因此，適用的粒度分析范圍在1-300nm之間,。

對于電鏡法粒度分析還可以和電鏡的其他技術(shù)連用,，可以實現(xiàn)對顆粒成份和晶體結(jié)構(gòu)的測定，這是其他粒度分析法不能實現(xiàn)的,。

MD-1型粉塵粒度分析儀