ES640充電器件模型（CDM）測試系統(tǒng)

1.描述

充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因,。較低電壓下的CDM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設(shè)備,。當(dāng)帶靜電的設(shè)備以不同的電位接觸金屬表面時，通常會發(fā)生這種情況,。這種靜電放電通常具有非?？斓纳仙龝r間。

ES640是一款自動化的CDM測試儀,，可滿足所有流行的CDM測試方法,，支持場感應(yīng)空氣放電方法（FICDM）和接觸放電（LI-CCDM, CC-TLP, RP-CCDM）方法。本測試系統(tǒng)包含計算機,、環(huán)境控制室,、精確的XYZ運動控制系統(tǒng)、不同類型的CDM測試儀頭以及自動測試和數(shù)據(jù)分析軟件,。

以下是ESDEMC ES640 CDM解決方案與其他解決方案的比較,，包括Thermo Scientific Orion3 CDM測試儀、Hanwa HED-C5000R等,。

2.特點

• 高分辨率攝像頭（可多達3個）可輕松進行引腳對齊操作

• 高分辨率運動控制系統(tǒng)（步長低至1 µm）

• 允許批量測試多個設(shè)備

• 正在申請的CCDM方法具有更好的可重復(fù)性

• 密閉的環(huán)境室提高了干燥單元的效率

• 支持再生干燥單元（無需氮氣）

3.應(yīng)用

• 用于封裝和晶圓級測試的通用CDM系統(tǒng)

• 支持許多流行的最新CDM方法：

• ANSI/ESDA/JEDEC JS-002(FICDM)

• AEC Q100-011 Rev-D (遵循JS-002)

• AEC Q101-005 Rev-A (遵循 JS-002)

• ANSI/ESD SP5.3.3 (LI-CCDM, 需要vf-TLP)

• CC-TLP (待批準的ESDA SP, 需要vf-TLP)

• 我司申請中的RP-CCDM方法

• 可根據(jù)客戶要求提供已停用或定制的解決方案

• 機器人帶電板模型(CBM）和平板ESD測試可自定義尺寸

4.規(guī)格

5.訂購信息