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膜厚儀的眾多特點(diǎn)分別是什么
膜厚儀能同時(shí)測(cè)量磁性基材表面的非磁性涂鍍層,，以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂鍍層,。本儀表內(nèi)置高精密雙探頭，利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng),，全自動(dòng)探測(cè)基材屬性,，計(jì)算涂鍍層厚度,，并通過(guò)點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。
同時(shí),，測(cè)量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值,。用戶(hù)可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值,、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn),。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn),，讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單,，確保您非常容易的使用它,。
膜厚儀的特點(diǎn)：
A.大點(diǎn)陣液晶屏，標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作,；
B.兩種測(cè)量模式：?jiǎn)未魏瓦B續(xù),；
C.兩種組模式：直接組和通用組,一個(gè)直接組和四個(gè)通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動(dòng)全部清除,。通用組數(shù)據(jù)將自動(dòng)保存,，關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲(chǔ)80個(gè)數(shù)據(jù),；
D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn),。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)，組與組之間不影響,；
E.用戶(hù)可隨時(shí)查看當(dāng)前工作組已測(cè)得的數(shù)據(jù),，并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；
F.實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計(jì)值：平均值,較小值,，Max值,標(biāo)準(zhǔn)方差,；
G.三種探頭模式：自動(dòng)、磁感應(yīng)和渦流,；
H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報(bào)警值,，超*屏幕指示報(bào)警；
I.可開(kāi)啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能,；
J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī),；
K.低電和錯(cuò)誤提示。
膜厚儀可以測(cè)量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率,。
可測(cè)量如氧化物,，氮化物，光阻,，導(dǎo)電玻璃,，聚合物和半導(dǎo)體薄膜等透明或半透明薄膜,。