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艾德克斯 IT2800高精密源測(cè)量單元在磁電阻中的測(cè)試應(yīng)用
閱讀：1663 發(fā)布時(shí)間：2022-10-14電磁學(xué)中還有許多知識(shí)點(diǎn),，當(dāng)電流垂直于外磁場(chǎng)通過(guò)導(dǎo)體時(shí)，在導(dǎo)體垂直于磁場(chǎng)和電流方向的兩個(gè)端面之間會(huì)出現(xiàn)電勢(shì)差,，這一現(xiàn)象稱(chēng)為霍爾效應(yīng),。在通有電流的金屬或半導(dǎo)體上施加磁場(chǎng)時(shí)，其電阻值將發(fā)生明顯變化,，這種現(xiàn)象稱(chēng)為磁致電阻效應(yīng),。近百年來(lái)，電磁學(xué)的研究迅速發(fā)展,，其應(yīng)用深入了科技及生活的方方面面,。例如磁性材料的電阻率在有外磁場(chǎng)作用時(shí)較之無(wú)外磁場(chǎng)作用時(shí)存在巨大變化的材料稱(chēng)為巨磁電阻，巨
磁電阻的發(fā)展,，帶來(lái)了計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的革命性變化,。時(shí)至今日，在研究領(lǐng)域我們已無(wú)法只眼睛去觀察,，用機(jī)械式儀器去測(cè)量,，先進(jìn)的材料及器件的研發(fā)需要*高性能的測(cè)試設(shè)備去完成測(cè)試。
ITECH 某材料領(lǐng)域用戶(hù)需要進(jìn)行薄膜磁電阻的電阻率測(cè)試,，在這個(gè)測(cè)試中首先需構(gòu)建變化的磁場(chǎng),，再向待測(cè)磁電阻輸入高精密恒流源，利用四探針?lè)y(cè)試薄膜磁電阻的磁阻及磁電特性,。恒流源需以1mA恒流輸出,分辨率1nA,。還需要有脈沖掃描功能，高電平從100mA掃描到-100mA,，低電平為0.1mA,。這要求恒流源電源需要有高分辨率高精度以保證測(cè)試的精準(zhǔn)及穩(wěn)定、正電流到負(fù)電流的連續(xù)穩(wěn)定掃描功能,。用戶(hù)
選擇IT2800高精密源測(cè)量單元完成這個(gè)試驗(yàn),，測(cè)試原理如下圖。
ITECH新品IT2800高精密源測(cè)量單元具有1/2U的緊湊體積及5寸觸摸顯示屏的圖形化顯示功能,，它集6種設(shè)備功能于一體，綜合了四象限電壓源,，電流源,6位半數(shù)字萬(wàn)用表,、脈沖發(fā)生器、電池模擬器以及電子負(fù)載功能,。電流量程具有9檔分檔,，適應(yīng)各種微小電流測(cè)試需求。在用戶(hù)所需的1mA檔位下分辨率為1nA,精度為0.02%+60nA,超高的精度保障材料測(cè)試的精準(zhǔn),。
IT2800內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)SWEEP模式,，支持線性和對(duì)數(shù),、單次和雙次up and down掃描功能以及恒定和脈沖掃描功能。列表LIST掃描功能可以有效地執(zhí)行任意波形輸出,，在表征響應(yīng)隨應(yīng)用電壓或電流而變化的測(cè)試中非常有用,，用戶(hù)可以使用excel導(dǎo)入或面板編輯的方式，生成一個(gè)任意形狀的掃描曲線,，最多可以導(dǎo)入99999點(diǎn)數(shù)據(jù),，是UI特性曲線測(cè)試的理想選擇。在測(cè)試中正負(fù)電壓及正負(fù)電流測(cè)試都可使用SWEEP完成全部掃描,，無(wú)需改變接線,。Scope界面可以觀察輸出實(shí)際曲線。
IT2800全系列覆蓋了10fA到10A的電流范圍以及100nV到1000V的電壓范圍,。除了直流工作模式之外,，IT2800 系列SMU還能夠進(jìn)行脈沖測(cè)量, IT2806 具有10A大電流脈沖功能。圖形用戶(hù)界面以及各種顯示模式幫助工程師顯著提高測(cè)試效率,?？蓮V泛應(yīng)用于分立半導(dǎo)體器件、功率芯片,、無(wú)源器件,、光電器件、微功耗量測(cè)以及材料研究等領(lǐng)域,。