ZK-CJ光纜沖擊試驗裝置       
試驗標(biāo)準(zhǔn)：符合GB∕T7424.2-2008∕IEC60794-1-2：2003(MOD)光纜總規(guī)范  第2部分：光纜基本試驗方法,。主要用于電纜或光纜的耐沖擊性能,。

主要參數(shù)：

1,、低溫沖擊高度：1000mm
2、砝碼：1Kg,、3 Kg,、5 Kg、6Kg (選購)
3,、沖擊頭：R=25mm
4,、測試工位：單工位
5、材質(zhì)：本裝置為45#鋼鍍硬鉻處理      
試驗標(biāo)準(zhǔn)：符合GB∕T7424.2-2008∕IEC60794-1-2：2003(MOD)光纜總規(guī)范  第2部分：光纜基本試驗方法,。主要用于電纜或光纜的耐沖擊性能,。
主要參數(shù)：
1、低溫沖擊高度：1000mm
2,、砝碼：1Kg,、3 Kg、5 Kg,、6Kg (選購)
3,、沖擊頭：R=25mm
4、測試工位：單工位
5,、材質(zhì)：本裝置為45#鋼鍍硬鉻處理

ZK-CJ光纜沖擊試驗裝置       
試驗標(biāo)準(zhǔn)：符合GB∕T7424.2-2008∕IEC60794-1-2：2003(MOD)光纜總規(guī)范  第2部分：光纜基本試驗方法,。主要用于電纜或光纜的耐沖擊性能。
主要參數(shù)：
1,、低溫沖擊高度：1000mm
2,、砝碼：1Kg、3 Kg,、5 Kg,、6Kg (選購)
3、沖擊頭：R=25mm
4,、測試工位：單工位
5,、材質(zhì)：本裝置為45#鋼鍍硬鉻處理