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SZ-ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,。 

特點：

主機主要由精密恒流源,、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,。儀器所有參數(shù)設定,、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位,、滿度自校功能,；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示,。本測試儀特贈設測試結果分類功能,，大分類10類。 

儀器具有測量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好、智能化程度高,、結構緊湊,、使用簡便等特點。 

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位,、高等院校對導體,、半導體、類半導體材料的導電性能的測試,。 

技術參數(shù)：

1. 測量范圍,、分辨率（括號內為可向下拓展1個數(shù)量級） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定) 
    直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,，手持方式不限. 
     長(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向,、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級 

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）  

   凈   重：≤1.5～2.0kg 

探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配,。有高耐磨碳化鎢探針探頭,，以測試硅類半導體、金屬,、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻,；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,，還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量,。配探頭,，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。 

測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺,。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率,。

儀器成套組成：由主機,、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成,。

SZ-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

SZ-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀具有測量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好、智能化程度高,、結構緊湊,、使用簡便等特點,。適用于半導體材料廠器件廠、科研單位,、高等院校對導體,、半導體、類半導體材料的導電性能的測試,。

基本技術參數(shù)

1. 測量范圍,、分辨率

    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω

    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm

    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□

2. 材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式決定

   直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。

   SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm,。

   長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,。.

   測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W,，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg

探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要,，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,，以測試硅類半導體,、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻,；也有球形鍍金銅合金探針探頭,，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭,，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻,。

配ST2253-F01測硅片電阻率

配ST2253-F01測硅片電阻率

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二部分組成,，也可加配測試臺,。

主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC,、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,，自動轉換量程。儀器所有參數(shù)設定,、功能轉換全部采用一旋鈕輸入,；具有零位、滿度自校功能；全自動轉換量程,；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示,。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用,！