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LJD介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)使用方法
直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
一 介電常數(shù)測試方法與步驟
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上,。
2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求）,，如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH,。
3. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,，樣品要盡可能平整,。
4. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,，按ZERO 清零按鍵,，初始值設(shè)置為0,。
Σ＝D2 / D4
直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
二 介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 主機C0值的計算方式:
機構(gòu)電容的有效電容為：Cz= C4－C3
分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL（參考電感的技術(shù)說明）的和
介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求）,，如：1MHz 時電感取100uH,，15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形,，直徑50.4--52mm/38.4--40mm,，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,，樣品要盡可能平直,。
5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,，按ZERO 清零按鍵,，初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,，把被測樣品夾入兩片極片之間,，調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,，以免夾得過緊或過松）,，這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2,，改變主機上的主調(diào)電容容量,，使主機處于諧振點（Q值大值），然后按一次 主機上的小數(shù)點（tgδ）鍵,，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,，記住厚度D2的值，此時顯示數(shù)值為C2和Q2,。
6. 取出S916測試夾具中的樣品,，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小）,，再改變主機上的主調(diào)電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值大值）上,。
7. 注意：多次測試同一個材料時,，要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。
8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點（tgδ）鍵,，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,，同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =．x x x x x ，即完成測試,。
9. 出錯提示,，當出現(xiàn)tn = NO 顯示時，說明測試時出現(xiàn)了差錯,，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況,。
附錄 一
顯示數(shù)據(jù)介紹：
C1 | 材料拿出后，諧振時測得的電容值 |
C2 | 材料在夾具中,，諧振時測得的電容值 |
Q1 | 材料拿出后,，諧振時測得的Q值 |
Q2 | 材料在夾具中，諧振時測得的Q值 |
CZ | 主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值 |
CL | 標準電感的分布電容值 |
C0 | 結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值 |
D2 | 材料的厚度 |
tn |
|
附錄 二
LKI-1電感組
LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個，凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,，電容器的電容量,，高頻介質(zhì)損耗，高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,，必須用電感組作輔助工具,。
本電感組有較高Q值，能使儀器測量時得到尖銳諧振點,，因而增加其測量的準確度,，各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表：
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數(shù)測試頻率 | |
LJD-B | LJD-C | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
10 | 15nH | ±10% | 40 | 0 |
| ≥100 | 100MHz |
附錄 三
一 如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數(shù)
1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面，上下層錫箔紙不能接觸,。錫箔紙厚度為DX;
2 超薄材料需要疊加：疊加方式如下
250μ貼合6層后測試,；
200μ貼合8層后測試；
175μ貼合9層后測試,；
125μ貼合12層后測試,；
100μ貼合15層后測試；
75μ貼合20層后測試,；
50μ貼合30層后測試,。
3 計算公式
Σ＝(D2-2*DX)/D4
4 介質(zhì)損耗系數(shù)測試同理
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