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擊穿電壓 | 50KV | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
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ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀
在工業(yè)頻率下固體電氣絕緣材料的擊穿電壓
和絕緣強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法1
本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D149發(fā)布的,。其后的數(shù)字表示原文本正式通過(guò)的年號(hào),;在有修訂的情況下,為上一次的修訂年號(hào),;圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào),。上標(biāo)符號(hào)(ε)表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。
本標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)批準(zhǔn)被國(guó)防部機(jī)構(gòu)采用,。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀1. 范圍
1.1該試驗(yàn)方法覆蓋了在工業(yè)頻率下,,即所規(guī)定的特定條件下,測(cè)定固體絕緣材料絕緣強(qiáng)度的流程,。2,,3
1.2除非另有說(shuō)明,否則本測(cè)試的規(guī)定頻率為60Hz,。但是,,該測(cè)試方法同樣可以應(yīng)用于25到800Hz的條件下。如果頻率大于800Hz,,那么將產(chǎn)生介質(zhì)加熱的問(wèn)題,。
1.3本測(cè)試方法將與其他ASTM標(biāo)準(zhǔn)或涉及該試驗(yàn)方法的其他標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合使用。本方法的參考文獻(xiàn)中將詳細(xì)說(shuō)明所使用的具體標(biāo)準(zhǔn)(參見(jiàn)5.5),。
1.4本方法可以應(yīng)用于各種溫度,,以及適宜的氣相或液相環(huán)境介質(zhì)。
1.5本方法不能用于測(cè)定在本測(cè)試條件下為液態(tài)的絕緣材料,。
1.6本方法不能用于測(cè)定本征絕緣強(qiáng)度,,直流電絕緣強(qiáng)度,或是電應(yīng)力條件下的熱失效(參考測(cè)試方法D3151)。
1.7本測(cè)試方法常用于測(cè)定擊穿電壓與試樣厚度的關(guān)系(擊穿),。也能測(cè)定擊穿電壓與固體試樣表面情況以及氣相或液相環(huán)境介質(zhì)的關(guān)系(閃絡(luò)),。如果加上第12條的修改說(shuō)明,本測(cè)試方法還能用于驗(yàn)證試驗(yàn),。
1.8本測(cè)試方法與電工協(xié)會(huì)(IEC)出版的243-1標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)似,。本方法中的所有流程包含在IEC 243-1標(biāo)準(zhǔn)中。本方法和IEC 243-1主要是在編輯上有所區(qū)別,。
1.9本標(biāo)準(zhǔn)并沒(méi)有列舉所有的安全聲明,,如果有必要,根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌,。使用本規(guī)范前,,使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范,并明確該規(guī)范的使用范圍,。具體的危害將在第7部分中闡述,。也可以參見(jiàn)6.4.1節(jié)。
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀 耐電壓擊穿試驗(yàn)儀2. 引用文件
2.1ASTM標(biāo)準(zhǔn):4
D374 固體電絕緣體厚度的測(cè)試方法(2013年取消)5
D618 試驗(yàn)用調(diào)節(jié)塑料操作規(guī)程
D877 用圓盤(pán)電極測(cè)定電絕緣液體介電擊穿電壓的試驗(yàn)方法
D1711 電絕緣相關(guān)術(shù)語(yǔ)
D2413 用液體介質(zhì)浸漬的絕緣紙和紙板的制備規(guī)程
D3151 在電氣應(yīng)力下固體電氣絕緣材料的熱失效的測(cè)試方法(2007年取消)5
D3487 在電設(shè)備中使用的礦物絕緣油的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
D5423 強(qiáng)制對(duì)流試驗(yàn)爐中的電氣絕緣評(píng)估規(guī)范
2.2IEC標(biāo)準(zhǔn)
出版物243-1固體絕緣材料介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法—第1部分:在工業(yè)頻率下測(cè)試6
2.3ANSI標(biāo)準(zhǔn)
C68.1 絕緣測(cè)試技術(shù),,IEEE標(biāo)準(zhǔn)號(hào)47
1本試驗(yàn)方法在ASTM委員會(huì)D09(電子和電氣絕緣材料)的管轄范圍內(nèi),,D09.12分會(huì)(電學(xué)試驗(yàn))負(fù)直接責(zé)任。
本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn),,2013年4月出版,。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn),。DOI:10.1520/D0149-09R13,。
2Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。
3Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA??, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983,。
4對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn),,。org,,或聯(lián)系ASTM客戶中心,,郵件:[email protected]。對(duì)于ASTM標(biāo)準(zhǔn)卷冊(cè)的信息,,參看ASTMwang站的標(biāo)準(zhǔn)文件摘錄頁(yè),。
5該歷史標(biāo)準(zhǔn)的新批準(zhǔn)版本見(jiàn)wang站.
6可從電工學(xué)協(xié)會(huì)(IEC)獲得,
7可從美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)(ANSI)獲得,,
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀3. 術(shù)語(yǔ)
3.1定義:
3.1.1介質(zhì)擊穿電壓(電擊穿電壓),,名詞:使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差(參見(jiàn)附錄X1)。
3.1.1.1討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱“擊穿電壓”,。
3.1.2介電失效(在測(cè)試中),,名詞:指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下,能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。
3.1.3絕緣強(qiáng)度,,名詞:指在測(cè)試的特定條件下,,使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。
3.1.4電氣強(qiáng)度,,名詞:參見(jiàn)絕緣強(qiáng)度,。
3.1.4.1討論一在上,“電氣強(qiáng)度”更常用些,。
3.1.5閃絡(luò),,名詞:指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周?chē)橘|(zhì)的破壞性電火花,不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生yong久損害,。
3.1.6其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語(yǔ)的定義,參見(jiàn)術(shù)語(yǔ)D1711,。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀4. 測(cè)試方法概要
4.1在工業(yè)電頻率條件下(如無(wú)特殊說(shuō)明,,則為60Hz),對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓,。以使用電壓所描述三種方法中的一種,,將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開(kāi)始,升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止,。
4.2大多數(shù)情況下,,在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極,以進(jìn)行電壓測(cè)試,。測(cè)試樣品可以是模制的,,也可以是鑄造的,或是從扁平薄板或厚板上切割下來(lái)的,。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀,,或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀5. 意義和使用
5.1電絕緣的絕緣強(qiáng)度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能,。在很多情況下,,材料的絕緣強(qiáng)度是所使用裝置設(shè)計(jì)的決定性因素。
5.2本方法中介紹的測(cè)試,,將用于提供部分所需的信息,,以判斷材料在一定應(yīng)用條件下的適用性;當(dāng)然也能用于檢測(cè)由于流程的變化,,老化的程度,,或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測(cè)試方法可以有效地應(yīng)用于流程控制,,驗(yàn)證或研究測(cè)試,。
5.3本測(cè)試方法所獲得的結(jié)果,很少能直接用于實(shí)際使用材料介電性能的判斷。在大多數(shù)情況下,,還需要對(duì)其他功能測(cè)試和/或?qū)?/span>其他材料測(cè)試所獲得的結(jié)果進(jìn)行比較,,以估計(jì)出它們對(duì)特定材料的影響,才能進(jìn)行評(píng)價(jià),。
5.4在第12章中將具體說(shuō)明三種電壓使用方法,。方法A,快速測(cè)試,;方法B,,逐步測(cè)試;方法C,,慢速測(cè)試,。方法A常用于質(zhì)量控制測(cè)試。較費(fèi)時(shí)的方法B和C通常給出較低的結(jié)果,,但在對(duì)不同材料進(jìn)行相互比較時(shí),,它們所給出的結(jié)果更有說(shuō)服力。如果可以安裝電動(dòng)電壓控制器,,那么慢速測(cè)試法將比逐步測(cè)試法更簡(jiǎn)單,,也更常用。方法B和C所獲得的結(jié)果可以相互比較,。
5.5詳細(xì)說(shuō)明本測(cè)試法的文件如下:
5.5.1電壓應(yīng)用的方法,。
5.5.2如果是慢速測(cè)試法,應(yīng)說(shuō)明電壓的增速,。
5.5.3測(cè)試樣品的選擇,,準(zhǔn)備和調(diào)整。
5.5.4測(cè)試時(shí)的環(huán)境介質(zhì)和溫度,。
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