探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統(tǒng)原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)上和測樣樣品上的局限性，是*先量產(chǎn)化商品化的,，能實(shí)現(xiàn)樣品不動(dòng),，探針移動(dòng)掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對(duì)測樣樣品尺寸,、重量的局限性,。在適用超大樣品測樣的同時(shí)，飛時(shí)曼也將樣品臺(tái)的可拓展性增強(qiáng),，實(shí)現(xiàn)便捷的多儀器聯(lián)用原位測樣,。更可根據(jù)客戶需求，訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡,。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料與石墨烯材料的測樣研究中,。