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探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統(tǒng)原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)上和測樣樣品上的局限性，是*先量產(chǎn)化商品化的,，能實現(xiàn)樣品不動,，探針移動掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對測樣樣品尺寸,、重量的局限性,。在適用超大樣品測樣的同時，飛時曼也將樣品臺的可拓展性增強,，實現(xiàn)便捷的多儀器聯(lián)用原位測樣,。更可根據(jù)客戶需求，訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡,。廣泛應用于半導體材料與石墨烯材料的測樣研究中。