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手持式全半導體激光塵埃粒子計數(shù)器

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具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 CLJ-03A03
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 北京市

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更新時間:2024-11-05 10:00:05瀏覽次數(shù):785

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn)    
手持式全半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-03A03
產(chǎn)品說明
   該系列塵埃粒子計數(shù)器是以半導體激光器為光源的計數(shù)器,,它利用激光光源的波長單一,、能量集中的優(yōu)勢,克服了利用白熾燈為光源時的使用壽命短,、能耗大,、易受干擾、體積大等不利因素的影響,,從而大大地提高了儀器的使用壽命測試靈敏度及正確度,,并減小了體積,減輕了重量,,攜帶更方便輕巧,。

詳細介紹

手持式全半導體激光塵埃粒子計數(shù)器  型號:CLJ-03A03  

產(chǎn)品說明 
    該系列塵埃粒子計數(shù)器是以半導體激光器為光源的計數(shù)器,它利用激光光源的波長單一、能量集中的優(yōu)勢,,克服了利用白熾燈為光源時的使用壽命短,、能耗大、易受干擾,、體積大等不利因素的影響,,從而大大地提高了儀器的使用壽命測試靈敏度及正確度,并減小了體積,,減輕了重量,,攜帶更方便輕巧。  
  該系列主體功能是測量塵埃粒子的粒徑(0.3,、0.5,、1、3,、5,、10μm)和含塵顆粒數(shù)。 
  該系列化機內(nèi)軟件編進了美國FS-209E標準能自動按95%的置信度作出潔凈等級判斷,,同時還可自動換算成每立方米的含塵數(shù),,方便用戶使用。 
本系列主要技術(shù)指標  
自凈時間≤6分鐘  
重復性≤10%  
分布準確度 ≤30%  
示值誤差 ≤30%  
光源使用壽命:30000小時以上  

手持式全半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 ?  
詳細參數(shù)  
型號  
CLJ-03A03  
采樣量  2.83 L/min  
大采樣濃度  3.5萬顆/L  
可測粒徑  0.3,、0.5,、1、3,、5,、10μm  
采樣周期  1--10min  
自凈時間  ≤6分鐘  
測量方式  測量點數(shù)(A 2--7),采樣次數(shù)(L 2-9)  
打印方式  外接打印機(另配)/計算機打印  
打印格式  計算機控制 分ALL 209E ISO14644-1 95%置信  
電源  DC 7.2V  
功率  3W  
外形尺寸 (mm)  52×100×170  
重量  0.8Kg  
功能配置  
液晶顯示,、溫濕度傳感,、自動判別凈化級別、通訊接口RS232,、光盤軟件,、存1530個數(shù)據(jù)、交直流兩用,、選配三腳支架

 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率儀 四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀型號:RTY-WSP-25 
硅料分選檢驗綜合儀是一款門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選,、檢驗、檢測而設計的,。它可以快速準確測量硅料的電阻率,。可以檢測所有類型的硅料:母合金摻雜濟電阻率檢測可以精確到0.0001-0.0999Ω﹡㎝,,及各種碎片料,、米粒料、片料,塊料,,頭尾料,、堝底料、邊皮料等等,。 
    產(chǎn)品特點: 

■電阻率測量:大屏幕清晰顯示硅料電阻率值,,方便檢料工快速分選 
■ 電流測量:本儀器采用良好芯片技術(shù),可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度,,儀器可直接鎖定電流,,使測量使用更加簡便準確,本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺,, 利用測試平臺可以測試薄片電阻率 
■ 四探針:一次測量,,顯示完整電阻率值。 
■ 采用了*的恒流源技術(shù),,能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求 

    推薦工作條件: 

■ 溫度:23±2℃ 
■ 濕度:60%~70% 
■ 無強磁場、不與高頻設備鄰近 

 技術(shù)指標: 

 低阻電阻率量程:0.0001~0.0999Ω﹡㎝  
 低阻測量精度:精確到千分位(即精確到小數(shù)點后四位) 

注:低阻一般用于測量低于0.1.0Ω﹡㎝以下硅料,,如母合金,,高于0.1.0Ω﹡㎝一 

般用高阻測量。 

使用方法: 

1,, 接好電源線,,將儀器接上220V交流電,供電,,若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲,,規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。 

2,,面板數(shù)顯表測量時顯示為電阻率值,,按鍵調(diào)節(jié)開關(guān)調(diào)節(jié)硅材料厚度,硅材料厚度小于3.98mm按實際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié),,如2.18就調(diào)到218,,厚度大于3.98的都調(diào)到3。98,,厚度調(diào)好后選擇高阻或低阻可直接測試即可 

測量電阻率: 

1校厚:)四探針針頭壓住待測樣片,,根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動按鈕至所要求厚度, 

測試四探針筆: 

1一般情況下,,更換鋼針之類,,不需要拆開探頭,只需要用拔出要更換的鋼針,,再重新安裝新針,,如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出,必須按照以下步驟進行操作: 

A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲,輕輕脫下尾部航空插口,,保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn),,防止扭線斷線,短接,, 

B輕輕擰開探針頭子,,然后小心將銅片拉出,記住七片緣片與銅片之間的位置,,(四片銅片每片見夾一片緣片,,兩邊的銅片外側(cè)各兩片),將斷針從銅片卡口座里取下即可,, 

C特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂,,銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列,并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列,,以免短接,。 

D安裝時銅片及緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子,并先將探針頭子擰緊,,再將尾部航空頭插上,,并且旋緊小螺絲, 

E將針裝好,,注意針頭針尾方向,,尖頭為探針頭部 

注意事項: 

1儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書,規(guī)范操作,。 

2輕拿輕放,,避免儀器震動,水平放置,,垂直測量,, 

3儀器不使用時請切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象,, 

4探針筆測試結(jié)束,套好護套,,避免人為斷針,,

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