高精度影像測量儀廠家功能強(qiáng)大的2D/3D測量系統(tǒng)，包括三次元,、二次元,、工具顯微鏡、投影儀的功能,。采用相同的座標(biāo)系統(tǒng),，使用測頭的三維測量可與影像二維混合使用或使用影像的二維平面與三維立體測量結(jié)合。
高精度影像測量儀廠家結(jié)構(gòu)美觀大方,，操作簡便,，結(jié)合測量軟件,，可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的工件測量。
應(yīng)用于機(jī)械制造,、電子,、汽車、五金,、塑料,、模具等行業(yè)，可以對工件尺寸,、形狀和位置公差進(jìn)行精密檢測,，從而完成零件檢測、外形測量,、過程控制等任務(wù),。
二．技術(shù)概要
高精度影像測量儀產(chǎn)品特點(diǎn)
具有快速對焦、自動尋邊,、強(qiáng)大的編程和自動測量功能
采用亞像素細(xì)分技術(shù),，提高圖像邊界分辨能力
操縱桿/鼠標(biāo)操作，方便易用
程控恒流驅(qū)動式八區(qū)表面冷光源,，可適應(yīng)復(fù)雜的工件測量
激光指示器指示測量位置,，方便快速定位
在線SPC數(shù)據(jù)處理分析，大批量治具測量功能
三軸伺服控制,，定位精度高速度快,，XY速度可達(dá)200mm/s，運(yùn)行平穩(wěn)
嵌入式模塊控制系統(tǒng),，將復(fù)雜的控制系統(tǒng)集成在儀器內(nèi)部,，穩(wěn)定性更高
采用花崗石底座，性能穩(wěn)定,，不易變形
選配MCP簡易測頭,，可做簡單三維測量
選配自動變倍可實(shí)現(xiàn)多倍率下測量
儀器型號 | PZ-5040H | ||
工作臺 | 玻璃臺尺寸（mm） | 560*460 | |
運(yùn)動行程（mm） | 500*400 | ||
儀器重量（kg） | 380 | ||
外形尺寸（mm） | 1100*950*1660 | ||
Z軸升降行程 | 200 mm | ||
X,、Y,、Z數(shù)顯分辨力 | 0.5μm | ||
工作距離 | 92 mm | ||
X、Y坐標(biāo)示值誤差 | (2.5+L/100) μm (L為被測長度,，單位：mm) | ||
影 像 系 統(tǒng) | 攝像機(jī) | 1/2”彩色CCD | |
變倍鏡頭倍率 | 0.7X—4.5X | ||
物方視場 | 11.1mm～1.7mm | ||
視頻倍率 | 20~128X | ||
光源系統(tǒng) | 表面光源與透射光源均用LED，亮度可調(diào) | ||
2.規(guī)格參數(shù)
3.關(guān)鍵配置清單
序 號 | 名 稱 | 規(guī)格品牌 | 數(shù) 量 | 單位 | 備 注 |
1 | 主機(jī) | 工作臺采用00級天然大理石 | 1 | 套 | 含光學(xué)玻璃 |
2 | 電腦 | 聯(lián)想電腦 | 1 | 臺 | 含主機(jī),，顯示器，鍵盤,，鼠標(biāo) |
3 | 軟件 | 軟件 | 1 | 套 | 含加密鎖,，光盤，說明書 |
4 | 運(yùn)動控制盒 | 1 | 套 | 配操縱手柄 | |
5 | 光柵尺 | 光學(xué)尺 | 3 | PCS |
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6 | 導(dǎo)軌 | Z軸配高精度直線導(dǎo)軌 | 2 | 付 |
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7 | 絲桿 | TBI研磨級絲桿 | 3 | PCS |
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8 | 馬達(dá) | 伺服馬達(dá) | 3 | PCS |
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9 | 變倍鏡頭 | 手動變倍鏡頭 | 1 | PCS |
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10 | 攝像機(jī) | 1/2" CCD相機(jī) | 1 | PCS |
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11 | 表面光 | 八區(qū)程控光源 | 1 | PCS |
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12 | 校正片 |
| 1 | PCS |
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`13 | 視頻卡 |
| 1 | PCS |
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元素測量
能直接測量11種元素（點(diǎn)、直線,、圓,、圓弧、橢圓,、矩形,、槽形、環(huán)形,、距離,、角度、高度）,。具有以下特點(diǎn)：
所測元素類型較多,。除六種基本幾何元素外，還有組合幾何元素（槽形）和關(guān)聯(lián)幾何元素（距離與角度）,，以及高度,，曲線等。
對用戶感興趣的距離與角度元素,，既可作測量元素對待（可通過一次測量直接獲得所需結(jié)果）,，又可作構(gòu)造元素對待（構(gòu)造方法靈活多樣，構(gòu)造功能極其強(qiáng)大）,，從而增加了求距離和角度的靈活性與方便性,。
測量方法多樣（自動尋邊、對比測量,、局部放大采點(diǎn),、十字線尋邊測量、鼠標(biāo)采點(diǎn)測量）,，可以滿足用戶不同需求,，大大提高使用的方便性,當(dāng)某種特別的工件用自動尋邊無法完成時(shí),可通過對比測量和局部放大采點(diǎn)測量方式解決.
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