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ROHS檢測(cè)儀-臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀
  • ROHS檢測(cè)儀-臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀

貨物所在地:江蘇蘇州市

地: 昆山市玉山鎮(zhèn)

更新時(shí)間:2024-12-11 19:04:57

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臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀是國家剛頒布的《電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令 》的簡稱,。顧名思義,RoHS檢測(cè)儀是一種檢測(cè)ROHS的檢測(cè)儀,,原理是利用X射線檢測(cè)ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量

臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀EDX1800B:

ROHS指令,歐洲RoHS 2011/65/EU要求檢測(cè)的項(xiàng)目為6項(xiàng),,指令生效為RoHS指令,。
RoHS檢測(cè)項(xiàng)目有 鉛(Pb),,鎘(Cd),汞(Hg),,六價(jià)鉻(Cr6+),,多溴聯(lián)苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs),。關(guān)于DIBP,BBP,DBP,DEHP等項(xiàng)目該指令僅提到在后續(xù)優(yōu)先評(píng)估是否列入管控,,未強(qiáng)制要求生產(chǎn)商進(jìn)行檢測(cè),。針對(duì)EDX 1800在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,,根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安防護(hù)等級(jí)的需求,特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800B,。應(yīng)用新代的高壓電源和X光管,,提高產(chǎn)品的性,;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。

臺(tái)式Rohs環(huán)保檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域:


RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅,、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量,、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑,、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè),;銀
行,,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)

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性能優(yōu)勢(shì)


下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),,方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新代光管良好的屏蔽作用,X射線的輻射水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定,,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,,帶給您方位防護(hù)

 

ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源,、分光晶體和測(cè)角儀,、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,,相對(duì)簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,,根據(jù)Bragg定律,,通過測(cè)定角度,即可獲得待測(cè)元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距,;θ為衍射角,;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,,利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長,,從而獲得待測(cè)元素的特征信息,。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,,直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=kE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量,;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息,。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等,。
為獲得樣品的定性和定量信息,,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),,并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理,。


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