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X射線熒光鍍層測厚儀 ：

X射線熒光鍍層測厚儀采用X射線管和高壓電源。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻,，高壓等級根據(jù)有所區(qū)別,，加上傳感器具有的溫度自動保護(hù)與報警功能，提高了X射線管的穩(wěn)定性和使用壽命,。模塊化設(shè)計,、免維護(hù)設(shè)計方案及規(guī)范的制造保證了設(shè)備系統(tǒng)高可靠性。

檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,，離子室設(shè)計具有大空間,，高抗干擾性、高靈敏度等特點,。系統(tǒng)備有風(fēng)冷,、油冷恒溫冷卻單元，系統(tǒng)的使用壽命,。

五金產(chǎn)品,、緊固件、汽車配件,、衛(wèi)浴等,，測量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品

：主要針對線路板等大平面，但是需要測試?0.1mm以下,，且求購儀器預(yù)算較低的客戶,。

XTU-50B、XTU-4C：可測試小至?0.05mm測量面積,，且搭載的精密移動平臺和變焦鏡頭（XTU全系列都含有）能滿足各種需求,。

我公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn),、銷售的**企業(yè),。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,，溫州測厚儀，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀,。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),、**的解譜方法和EFP算法結(jié)合*定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形,、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題,。廣泛應(yīng)用于電子元器件,、LED和照明、家用電器,、通訊,、汽車電子等制造領(lǐng)域。

芯片載體的引線框架,，它起到了和外部導(dǎo)線連接的橋梁作用,，絕大部分的半導(dǎo)體集成塊中都需要使用引線框架，是電子信息產(chǎn)業(yè)中重要的基礎(chǔ)材料,。封裝基板是Substrate（簡稱SUB）,。基板可為芯片提供電連接,、保護(hù),、支撐、散熱,、組裝等功效,，以實現(xiàn)多引腳化，縮小封裝產(chǎn)品體積,、改善電性能及散熱性,、*高密度或多芯片模塊化的目的。

作為芯片封裝的載體和基板,，為了保證芯片和引線框架和基板的良好連接,，會在引線框架以及基板上進(jìn)行鍍銀或者化學(xué)鎳鈀金（ENEPIG）的電鍍處理。

ENEPIG工藝,，是指在基材表面先鍍化學(xué)鎳然后在鍍鈀和金,，Au 和 Pd 的涂層厚度僅為幾納米。為了確保產(chǎn)品品質(zhì),，必須要對低至納米的鍍層厚度進(jìn)行測量,。

1、多導(dǎo)毛細(xì)光學(xué)系統(tǒng)和高性能SDD探測器：區(qū)別金屬準(zhǔn)直,，多導(dǎo)毛細(xì)管可將光束縮小至10 μm,，同時得到數(shù)千倍的強度增益?？蓽y量*微小樣品的同時*大程度保證了測試的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性,。

2、微米級*小區(qū)域：在Elite-X光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計下大大降低檢出限,，納米級*薄鍍層均可準(zhǔn)確,、可靠測試

3、廣角相機：樣品整體形貌一覽無余,，且測試位置一鍵直達(dá)

4,、搭配高分辨微區(qū)相機：千倍放大*對焦測試區(qū)域，搭配XY微米級移動平臺,，三維方向?qū)咕劢箿y試點位,，誤差<±2 μm

5、多重保護(hù)系統(tǒng)：V型激光保護(hù),，360°探入保護(hù),，保護(hù)您的樣品不受損害，保證儀器安全可靠的運作

6,、全自動移動平臺：可編程化的操作,，針對同一類型樣品，**編程測試點位,，同一類樣品自動尋路直接測試

7,、人性化的軟件：搭配EFP**算法軟件，人機交互,，智慧操作

8,、可搭配全自動進(jìn)送樣系統(tǒng)，與您的產(chǎn)線*配合

     主要分為磁性金屬鍍層測厚儀,、電渦流金屬鍍層測厚儀,，X射線金屬鍍層測厚儀三類測量方法。

金屬鍍層測厚儀是一種對材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器,，測量的對象包括涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等（在有關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating））,。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段,。為使產(chǎn)品國際化,，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求,。