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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> X光機(jī)AX8200-電子元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測設(shè)備
電子元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測設(shè)備介紹:
電子元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測設(shè)備應(yīng)用于倒裝芯片檢測,,半導(dǎo)體、封裝元器件,、鋰電行業(yè),電子元器件,、汽車零部件,、光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測,。
由于IC芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構(gòu)成。采用一定的工藝,,把一個電路中所需的晶體管,、二極管,、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,,然后封裝在一個管殼內(nèi),,成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu),;其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體,,使電子元件向著微小型化,、低功耗和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步,。但越精密的電路,,檢測難度就越復(fù)雜,。當(dāng)前芯片檢驗(yàn)的常用方法通常是將芯片層層剝開,再用電子顯微鏡對每一層表面進(jìn)行拍攝,,這樣檢測方式對芯片具有極大破壞性,,此時,,X-ray無損檢測設(shè)備可助一臂之力。
主要是采用的X光檢查機(jī)中產(chǎn)生的X射線照射芯片表面,,X射線的穿透力很強(qiáng),,能夠穿透芯片后成像,,芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)斷裂情況一覽無余,使用X光對芯片檢測的最主要特點(diǎn)是對芯片本身沒有損傷,,因此這種檢測方式也叫無損探傷,。當(dāng)然也可以檢測其他的產(chǎn)品,如半導(dǎo)體,、鋰電池,、LED燈珠等等
產(chǎn)品應(yīng)用:
● pcba焊點(diǎn)檢測(BGA 、CSP ,、POP等元器件檢測)
● 電池(極片焊點(diǎn)缺陷檢測,、電芯繞卷情況檢測)
● 電子接插件(線束,、線纜、插頭等)
● 汽車電子(接插線,、儀表盤等檢測)
● 太陽能、光伏(硅片焊點(diǎn)檢測)
● 半導(dǎo)體(封裝元器件檢測)
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測
標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 4/2(選配6寸)像增強(qiáng)器和百萬像素?cái)?shù)字相機(jī),;
● 90KV5微米的X射線源,;
● 簡單的鼠標(biāo)點(diǎn)擊操作編寫檢測程序,;
● 檢測重復(fù)精度高,;
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,,允許*視角檢測樣;
● 高性能的載物臺控制,;
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識別不良品,;
● 自動BGA檢測程序準(zhǔn)確檢測每一個BGA的氣泡,,根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報表。
安全的檢測設(shè)備:
日聯(lián)作為一個有著高度社會責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商,首要考慮的就是設(shè)備的安全性能,。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板,、鉛玻璃以及含鉛橡膠,使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),。
日聯(lián)科技成立于2002年,目前已成為國內(nèi)從事精密X-ray技術(shù)研究和X-ray智能檢測裝備研發(fā),、制造的國家*企業(yè)。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于LED,、SMT 、BGA,、CSP、Flip-Chip,、IC半導(dǎo)體元器件,、連接器、線材,、光伏組件,、電池,、陶瓷制品,、及其它電子產(chǎn)品內(nèi)部穿透檢測等,,X-ray 檢測有高清晰的圖像,,同時具備分析缺陷(例如: 開路,,短路,,漏焊等)的功能,。
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