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IC芯片缺陷X-RAY檢測(cè)給電子元件進(jìn)行X-RAY透視的X光檢測(cè)儀被廣泛的應(yīng)用于電池、LED,、SMT,、半導(dǎo)體、鑄造,、汽車電子,、陶瓷產(chǎn)品、塑膠,、接插件等行業(yè)一種精密檢測(cè)設(shè)備,。基本上市面上8成以上的X-RAY設(shè)備均采用以上4個(gè)基本結(jié)構(gòu),,可能部分設(shè)備具體結(jié)構(gòu)有一定出入,,但基本機(jī)械原理變化不大。
由于技術(shù)的改進(jìn),,元器件的外形越來(lái)越逼真,,數(shù)量越來(lái)越大,而且鑒別難度也日益增加,。目視檢查幾乎已經(jīng)不能檢測(cè)到產(chǎn)品,。因此鑒別可疑元器件需要通過(guò)專業(yè)測(cè)試儀器和手段進(jìn)行測(cè)評(píng),如掃描電子顯微鏡檢查,、X光透視,、顯微切片、掃描電鏡/能譜,、芯片開(kāi)封,、掃描超聲顯微鏡、伏安曲線追蹤儀等,。
微焦點(diǎn)X-RAY透視檢測(cè)設(shè)備是集現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè),、計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)、圖像采集處理技術(shù),、機(jī)械傳動(dòng)技術(shù)為一體,,涵蓋了光、機(jī),、電和數(shù)字圖像處理四大類技術(shù)領(lǐng)域,,通過(guò)不同材料對(duì)X射線的吸收差異,對(duì)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像然后進(jìn)行內(nèi)部缺陷檢測(cè),,能夠?qū)崟r(shí)觀測(cè)到產(chǎn)品的檢測(cè)圖像,,判定內(nèi)部是否存在缺陷及缺陷類型和等級(jí),同時(shí)通過(guò)計(jì)算機(jī)圖像處理系統(tǒng)完成對(duì)圖像的存儲(chǔ)和處理,,以提高圖像的清晰度,,保證評(píng)定的準(zhǔn)確性,。
設(shè)備構(gòu)成:
本設(shè)備由X射線機(jī)系統(tǒng),、數(shù)字成像系統(tǒng),、計(jì)算機(jī)圖像采集及處理系統(tǒng)、電氣控制系統(tǒng),、機(jī)械傳動(dòng)系統(tǒng),、射線防護(hù)系統(tǒng)及其它部分等構(gòu)成。
設(shè)備采用進(jìn)口品牌一體化微焦點(diǎn)透射式X射線管,、進(jìn)口品牌高分辨率平板探測(cè)器成像系統(tǒng),。
產(chǎn)品特點(diǎn):
●90-130KV 3-5μm X射線源;
●高分辨率FPD探測(cè)器,;
●高達(dá)1000X放大倍率,高清晰實(shí)時(shí)成像,;
●7軸聯(lián)動(dòng),多視角傾斜檢測(cè),;
●可離線編程,,導(dǎo)航模式檢測(cè)。
名稱 | 整機(jī)狀態(tài) | 尺寸 | 1900kg | |
電源電壓 | 1.6kW | |||
封閉型 Closed | ||||
電壓 | 40W | |||
焦點(diǎn)尺寸 | X射線系統(tǒng) | 成像器 | 22寸顯示器 22"LCD | |
系統(tǒng)放大倍率 | 檢測(cè)區(qū)域 | 載物尺寸 | 450mm x 450mm | |
< 1uSv/h |
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