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考古陶瓷古玩斷代測試儀 古董年份鑒定儀器對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用,、極受歡迎,, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持, 且性能可靠的方法,。與化學(xué)試劑測...
古董陶瓷年代鑒定X熒光測試儀對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用,、極受歡迎, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持, 且性能可靠的方法,。與化學(xué)試劑測試法相比,, ...
古董鑒定儀器光譜分析儀_考古檢測儀器對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎,, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,, 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測試法...
古玩陶瓷無損檢測儀器 古董斷代儀器對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用,、極受歡迎,, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持, 且性能可靠的方法,。與化學(xué)試劑測試法相...
考古檢測X熒光光譜儀 古陶瓷 古青銅器對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用,、極受歡迎, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,, 且性能可靠的方法,。與化學(xué)試劑測試...
X熒光分析儀器 檢測鑒定古文物真?zhèn)螌Υ善骱颓嚆~器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎,, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,, 且性能可靠的方法。與化學(xué)試劑測試法相...
古董古陶瓷古青銅器成分分析光譜儀對瓷器和青銅器等進(jìn)行化學(xué)成份分析已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用,、極受歡迎,, 并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持, 且性能可靠的方法,。與化學(xué)試劑測試法相比...
Rohs十項(xiàng)分析儀 鄰苯4項(xiàng)測試儀就是X射線熒光光譜儀,,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(...
單道掃描電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是光電倍增管PMT檢測器為基礎(chǔ)的單道掃描電感耦合等離子發(fā)射光譜儀,高頻發(fā)生器,,自動調(diào)諧,,提供具有中英文操作界面的軟件;專用自動...
固定道波長能量色散X熒光光譜儀 玻璃分析儀可配置10個固定分光道,,同時分析10種元素,。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na,、Mg,、...
固定道波長色散X熒光光譜儀 元素成分分析儀可配置10個固定分光道,同時分析10種元素,。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素,。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na,、Mg、...
五金電鍍件無損檢測儀俗稱X射線熒光測厚儀,、鍍層測厚儀,、膜厚儀、膜厚測試儀,、金鎳厚測試儀,、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度,。廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè),、五金...
鍍金,、鍍銀,、鍍鎳、鍍錫,、鍍鋅鎳厚度檢測俗稱X射線熒光測厚儀,、鍍層測厚儀、膜厚儀,、膜厚測試儀,、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等,,主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度,。廣泛應(yīng)...
便攜式X射線衍射儀 礦石物相分析在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,在特...
氧化鋯陶瓷材料分析儀 X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,,在...
便攜式X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,在特定的方向上發(fā)生...
臺式XRD X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,,在特定的方向...
高分辨多晶薄膜X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,,樣品臺位于測角儀中心,,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時,,在特定的方...
薄膜材料X射線衍射物相分析在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,在特定的方...
薄膜材料高分辨率X射線衍射分析在X射線光束通過索拉狹縫,、發(fā)散狹縫照射在樣品上,,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,,X射線光束在滿足布拉格定律時,,在特定...
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