XRD測(cè)試是一種通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分,、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)以及形態(tài)等信息的研究手段。XRD測(cè)試既可以進(jìn)行定性分析也可以進(jìn)行定量分析,。其中定性分析可以判斷物相是否存在,，可以對(duì)單一物相及混合物相進(jìn)行鑒定或驗(yàn)證;定量分析可以根據(jù)衍射線的強(qiáng)度分布情況，判斷各個(gè)物相的相對(duì)含量,。

XRD測(cè)試廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域,，包括材料科學(xué)、藥物研究,、催化劑研究,、能源產(chǎn)業(yè)等，例如：

1.通過XRD測(cè)試可以用于研究材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì),，如晶格常數(shù),、晶體結(jié)構(gòu),、晶體缺陷等。這對(duì)于材料設(shè)計(jì)和制造過程中的質(zhì)量控制非常重要,；

2.通過XRD測(cè)試幫助藥物研究人員確定藥物的晶體結(jié)構(gòu),，從而支持藥物開發(fā)和改進(jìn)；

3.通過XRD測(cè)試可以揭示催化劑的晶體結(jié)構(gòu)和表面形態(tài),，這對(duì)于了解其催化活性和選擇性非常重要,；

4.通過XRD測(cè)試可以用于研究能源材料，如鋰離子電池,、太陽(yáng)能電池等,。通過分析這些材料的晶體結(jié)構(gòu)和缺陷，可以提高它們的性能和壽命,。

樣品要求

1. 樣品狀態(tài)要求：可為粉末,、塊狀、薄膜樣品,、液體樣品可以涂在載玻片上干燥之后測(cè)試（有可能測(cè)試到基底,，請(qǐng)悉知）；

2. 粉末樣品要求：請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg,，0.1g以上最好,。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無(wú)顆粒感,，面粉質(zhì)感,，送樣前請(qǐng)務(wù)必研磨好；如果因樣品量少或粒度不符合要求導(dǎo)致的結(jié)果不好,，無(wú)法提供免費(fèi)復(fù)測(cè),；

3.塊狀/薄膜樣品要求：長(zhǎng)寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm,，若為立方體則平面長(zhǎng)寬≤20mm,，且厚度范圍50um-15mm；需要注明測(cè)試面,，測(cè)試面需要平整光潔,；

4. 液體樣品要求：1ml~10ml，量少可與項(xiàng)目經(jīng)理溝通,。樣品濃度越高越好,，只有液體中有晶體存在才可能出峰，液體樣品測(cè)試難度大且不確定性大,，若樣品能夠被干燥,，建議干燥成粉末狀態(tài)后，選擇粉末狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試；若選擇液體狀態(tài),，默認(rèn)液體直接上機(jī)測(cè)試,。不接受腐蝕性液體；

5.其它特殊要求：

（1）若樣品在空氣中不穩(wěn)定,，如易吸水,，請(qǐng)務(wù)必告知。 若您遺漏或隱瞞樣品相關(guān)信息未告知我們,，造成設(shè)備發(fā)生損壞的,，由此產(chǎn)生的維修費(fèi)、賠償費(fèi)等均須由您全部承擔(dān),！若由此造成的測(cè)試結(jié)果不理想,，不免費(fèi)復(fù)測(cè)。

（2）樣品如果含有放射性元素如U,、Th,、Ra等，請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理確定是否可測(cè)?。,。?/span>