X射線數(shù)字射線成像(Digital Radiograph, DR)和工業(yè)計算機斷層掃描（Industrial Comp

uted Tomography, ICT）是工業(yè)無損檢測領域中的兩個重要技術分支,。DR檢測技術,，是

20世紀90年代末出現(xiàn)的一種實時的X射線數(shù)字成像技術。相對于現(xiàn)今仍然普遍應用的射線

膠片照相,，DR檢測的優(yōu)點就是實時性強,，可以在線實時地對生產工件結構介質不連

續(xù)性、結構形態(tài)以及介質物理密度等質量缺陷進行無損檢測,，因此在快速無損檢測領域里

有廣闊的發(fā)展前景,。

ICT技術是一種融合了射線光電子學、信息科學,、微電子學,、精密機械和計算機科學等領

域知識的*。它以X射線掃描,、探測器采集的數(shù)字投影序列為基礎,，重建掃描區(qū)域

內被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。據(jù)此圖像,，可對被檢試件的結構,、密度

、特征尺寸,、成分變化等物理,、化學性質進行判讀和計量。其作為一種無損的非接觸式測

試技術,，廣泛應用于航空,、航天、核能,、兵器,、汽車等領域產品和關鍵零部件的無損檢

測、無損評價以及逆向工程中,。

1 X射線數(shù)字成像技術

相對于現(xiàn)今仍然普遍應用的射線膠片照相,，DR技術在很大程度上避免了圖像信息丟失的

不利因素。DR成像技術檢測速度快,、探測效率高,，X射線輻射劑量小，曝光條件易于掌

握,。DR系統(tǒng)也可以方便地對圖像進行存儲和后處理,。因此DR技術被廣泛地應用于無損

檢測領域中。

1.1 X射線DR成像原理

DR系統(tǒng)一般由射線源,、待測物,、探測器、圖像工作站等幾部分構成,。對于DR檢測技術而

言,，其核心部件是探測器,。目前在工程實際中應用的探測器主要分為兩種：圖像增強器和

非晶硅平板探測器。圖像增強器首先通過射線轉化屏將X射線光子轉換為可見光,，然后通

過CCD（Charge Coupled Device）相機將可見光轉化為視頻信號,，可在監(jiān)視器上實時

顯示，也可通過A/D采集卡轉化為數(shù)字信號輸入到計算機顯示和處理,。非晶硅平板探測器

采用大規(guī)模集成技術,，集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體，可以直接將

X光子轉化為電子,，并最終通過數(shù)模轉換器（ADC）轉變成為數(shù)字信號,。平板探測器具有

動態(tài)范圍大和空間分辨率高的特性，可實現(xiàn)高速的DR檢測,，已成為工業(yè)DR檢測技術發(fā)展

的主流,。

射線源產生的X射線構成入射場強，經試件后發(fā)生衰減得到透射場強,，之后透射場強作用

在探測器上最終輸出圖像,。當入射場強的射線照射到待測試件上時，X射線光子與試件物

質原子發(fā)生相互作用,，其中包括光電效應,、康普頓效應和相干散射等。這些相互作用最

終的結果是導致部分X射線光子被吸收或散射,，即X射線光子穿過物質時被衰減,。實際的

衰

減過程是與射線能量、物質密度和原子系數(shù)相關的,。

假設對于單一入射能量的X射線束照射到一種密度,、原子序數(shù)均勻的材料發(fā)生衰減，則

衰

減公式表示為：

分別表示當前能量下材料的光電效應,、康普頓效應以及相干散射的衰減系數(shù),。

是材料的線性衰減系數(shù)。該式也稱為朗伯比爾定理,。

以上表明射線穿透物質后,，其強度以指數(shù)方式衰減，式中材料的線性衰減系數(shù)隨射

線能量和照射物質的原子序數(shù)以及物質的密度變化而變化,。

一般情況下衰減系數(shù)

與射線能量成反比,，與原子序數(shù)、物質密度等成正比,。即隨著射線能量的升高穿透能力

增強,，隨著物質密度增大射線越難穿透。

實際上，物質對射線的衰減能力都基于單色光（單一頻率）定義的,，對于連續(xù)光譜的X射

線,，在實際衰減中會存在多個衰減系數(shù)。但是隨著物質的厚度增加,，射線會發(fā)生硬化以至

于最后的射線近似于單色光,。

1.2 DR檢測技術的應用

X射線數(shù)字成像技術廣泛應用于航空,、航天,、兵器、核能,、汽車等領域產品和系統(tǒng)的無損

檢測,、無損評估以及逆求，檢測對象包括,、火箭發(fā)動機,、核廢料、電路板,、發(fā)動機

葉片,、汽車發(fā)動機氣缸、輪胎輪轂等,，在工程質量監(jiān)督和產品質量保證方面發(fā)揮著極其

重要的作用,，正逐漸成為發(fā)展現(xiàn)代化國防科技和眾多高科技產業(yè)的一種基礎技術。

2.1 CT的發(fā)展歷程

1895年德國的物理學家Wilhelm Roentgen(倫琴)發(fā)現(xiàn)X射線,，CT產生于20世紀70年

代,，但是其思想要追溯到1917年奧地利數(shù)學家Radon的貢獻，他論證了如何根據(jù)某些線

形的積分（即投影）來確定被積函數(shù)（即要重建的圖像）,，成功地解決了由投影重建圖

像的數(shù)學問題,，為CT技術的形成和發(fā)展奠定了理論基礎。但是在當時由于缺少有效的計

算工具,，一直被束之高閣,，沒有得到具體的應用。1956年,，美國斯坦福大學的教授R.N.

Bracewell將這項技術引入到射電天文學領域,，針對無線電天文學中確定產生微波輻射

的太陽區(qū)域問題，重建出太陽的活動圖,。而最初把斷層成像術應用于醫(yī)學領域的當推Old

endorf,，他在1961年研制了用γ射線進行透射型成像的初級裝置。Kuhl和Edwards在19

63年獨立研制了發(fā)射型成像裝置,，這些裝置均用類似于反投影的算法進行圖像重建,，所得

圖像不很清晰。而投影圖像精確重建的數(shù)學方法是由美國物理學家Cormack確立的。

臨床用的計算機斷層成像掃描裝置（CT）于1967年至1970年間由英國EMI公司的工程師

Hounsfield研制成功,。

隨著Godfrey Hounsfield于1967年研制成功一臺臨床CT機系統(tǒng),，使人們領略到了CT技

術給人類帶來的巨大收獲。ICT技術來自于醫(yī)學CT,，出現(xiàn)于二十世紀七十年代末,，美國首

先利用研制的透射式ICT設備對產品的關鍵部件進行無損檢測，正是由于軍事需求的

推動,，使之得到大力發(fā)展,。工業(yè)CT是一個技術含量高、應用領域廣泛,、檢測效果非常好

的技術手段,。CT裝置的更新?lián)Q代，主要是為了縮短獲得圖像的時間和提高檢測的精度,。

掃描時間并不作為ICT最主要的技術指標,，其發(fā)展方向主要致力于提高空間分辨率和密度

分辨率，以達到檢測各種類型工業(yè)產品缺陷的精度要求,。按掃描方式的變化來劃分,，CT技

術發(fā)展經歷了五個重要歷史階段。

2.2 CT研究現(xiàn)狀與應用進展

CT基礎研究包括：CT成像原理,，CT數(shù)據(jù)探測原理,，CT數(shù)據(jù)掃描模式，CT圖像重建方法,，

數(shù)據(jù)和圖像處理方法等,。

X射線CT是國內研究廣泛的CT成像方法之一，目前的研究包括：X射線單能成像,、

多能或多能譜成像,、相位成像等。目前廣泛使用的醫(yī)學和工業(yè)CT設備均基于單能成像原

理,，即利用物質對于單能X射線的吸收差異進行成像,。為了改善CT圖像對物質的區(qū)分能

力，采用兩組或多組能量或能譜的數(shù)據(jù),，通過特殊的重建方法獲取比傳統(tǒng)CT圖像更豐富

的物質信息,。相位CT是近十年發(fā)展起來的新成像方法，通過X射線與物質作用時相位變

化的信息進行成像,，以改善弱吸收物質CT成像的對比度,。除X射線CT外，我國學者還在

電學CT方面,，其中包括電容CT,、電阻CT,、電磁CT等，開展了卓有成效的研究,。在成像原

理方面,，電學CT與X射線CT有一定的相似性，但也存在不少差異,。

CT圖像重建方法是CT基礎研究的核心,。CT圖像重建的任務是由CT數(shù)據(jù)重建被測物體的CT

圖像。CT圖像重建方法可以分為兩類：解析重建方法和達代優(yōu)化重建方法,。解析重建方

法優(yōu)點是重建速度快,，但算法往往依賴于CT掃描軌道和射線束，圖像質量對數(shù)據(jù)噪聲敏

感,。迭代優(yōu)化類算法本質上不依賴CT掃描軌道和射線束,，但突出的問題是計算量大。近

年來隨著計算機硬件技術尤其是通用顯卡技術的發(fā)展,，使得迭代優(yōu)化類重建算法的研究快

速升溫，特別是基于建模和條件設計的目標優(yōu)化的迭代重建方法成為研究熱點之一,。此外

,，壓縮感知技術給予人們關于數(shù)據(jù)采樣與圖像重構的新思路，激發(fā)了新的研究熱點,。下文

著重綜述CT圖像重建方法的熱點研究問題和國內在此方面的研究進展,。

2.2.1 錐束CT

錐束CT是指基于面陣列探測器的CT成像方法，其中錐束指X射線源焦點與面陣列探測器

所形成惟形射線束,。與傳統(tǒng)基于維線陣列探測器的扇束CT相比,，錐束CT每次可以獲得一

幅二維圖像，具有射線利用率高和各向分辨率相同等優(yōu)點,。錐束CT依掃描時射線源焦點

相對于被掃描物體形成的軌跡,，分成圓軌跡、螺旋軌跡,、鞍形軌跡,、直線軌跡和非標準軌

跡等。