工業(yè)CT是計(jì)算器斷層成像技術(shù)(Industrial Computed Tomography)的簡 稱,，它能在對檢測物體無損傷條件下,，以二維斷層圖像或三維立體 圖像的形式，清晰,、準(zhǔn)確,、直觀地展示被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組 成,、材質(zhì)及缺損狀況,，被譽(yù)為當(dāng)今最佳無損檢測和無損評估技術(shù)之 一。

工業(yè)CT是計(jì)算器斷層成像技術(shù)(Industrial Computed Tomography)的簡 稱,，它能在對檢測物體無損傷條件下,，以二維斷層圖像或三維立體 圖像的形式，清晰,、準(zhǔn)確,、直觀地展示被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組 成,、材質(zhì)及缺損狀況,，被譽(yù)為當(dāng)今最佳無損檢測和無損評估技術(shù)之 一,。

      信準(zhǔn)檢測采用國外的工業(yè)CT檢測儀器,，全為進(jìn)口設(shè)備，儀器狀態(tài)良好,，檢測工程師同樣具有國內(nèi)外水平,，能為您提供準(zhǔn)確的檢測結(jié)果。

工業(yè)CT原理

     工業(yè)CT是在射線檢測的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過準(zhǔn)直且具能量的射線束穿過被檢物時(shí),，根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同，探測器接收到的透射能量也不同,。按照一定的圖像重建算法,，即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像，重復(fù)上述過又可獲得一個(gè)新的斷層圖像,，當(dāng)測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像,。

集成電路（IC）檢測 工業(yè)CT技術(shù)可以檢測IC內(nèi)部的缺陷，如裂紋,、氣泡,、接觸不良等。通過檢測，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并進(jìn)行維修,，提高IC的可靠性,，從而延長設(shè)備的使用壽命。封裝結(jié)構(gòu)檢查 工業(yè)CT技術(shù)可以對3C電子產(chǎn)品的封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損檢測,，包括PCB板,、連接器、FPC軟板等,。這有助于提高產(chǎn)品的可靠性,，減少因封裝結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致的失效。表面與內(nèi)部缺陷檢測 工業(yè)CT技術(shù)可以對3C電子產(chǎn)品的表面和內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測,，包括裂紋,、氣泡、異物等,。這有助于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和于提高產(chǎn)品的可靠性,，減少因封裝結(jié)構(gòu)問題導(dǎo)致的失效。電子元件與連接器的檢查 工業(yè)CT技術(shù)可以檢測電子元件和連接器內(nèi)部的缺陷,，如針腳變形,、短路、接觸不良等,。通過檢測,，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并進(jìn)行維修，提高電子產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性,。失效分析 工業(yè)CT技術(shù)可以對3C電子產(chǎn)品的失效進(jìn)行分析,，找出失效的原因，為產(chǎn)品的改進(jìn)和設(shè)計(jì)提供依據(jù),。通過分析,，可以優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，降低產(chǎn)品的失效率,。材料分析 工業(yè)CT技術(shù)可以對3C電子產(chǎn)品的材料進(jìn)行分析,，了解材料的組成、結(jié)構(gòu)和性能,。這有助于選擇合適的材料,，提高產(chǎn)品的性能和可靠性?？臻g分析與尺寸測量 工業(yè)CT技術(shù)可以對3C電子產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維重建,，提供空間分析和尺寸測量。這有助于在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段就發(fā)現(xiàn)潛在問題,，減少產(chǎn)品的制造成本和周期,。