EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)膜厚測試儀)對平面,、凹凸,、拐角,、弧面等各種簡單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對焦精準(zhǔn)分析,，滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求,。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè),、電子通訊,、航天新能源、五金衛(wèi)浴,、電器設(shè)備
汽車制造,、磁性材料、貴金屬電鍍,、高校及科研院所等

超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達(dá)129eV分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個元素的特征信號,針對復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,同樣可以輕松測試,。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性,減少儀器故障率。
高精度自動化的X,、Y,、Z軸的三維聯(lián)動,更精準(zhǔn)快速地完成對微小異型(如弧形、拱形,、螺紋,、球面等)測試點(diǎn)的定位。

設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
上照式設(shè)計(jì),，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試,。相較傳統(tǒng)光路，信號采集效率提升2倍以上,?？勺兘垢呔珨z像頭,，搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),，滿足微小產(chǎn)品，臺階,，深槽,，沉孔樣品的測試需求?？删幊套詣游灰破脚_,，微小密集型可多點(diǎn)測試,，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng),。