X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司,、粉末冶金企業(yè)等對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速,、準(zhǔn)確分析,。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si,、S,、AI,、Na、Mg,、Fe,、Co、Ni,、Cu,、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果,，并且測試時(shí)間短,，大大提高了檢測效率和工作效率；采用UHRD探測器,，具有良好的能量線性和能量分辨率,，及良好的能譜特性，較高的峰背比,；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,，保證了儀器工作的*性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解,，使采用UHRD探測器的分析儀對Si,、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度,；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確,，有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法,，使元素間的吸收,、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

性能特點(diǎn)

專業(yè)的水泥,、鋼鐵,、礦料、粉末冶金,、磁性材料等全元素分析,，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍,。
針對不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷,。
智能全元素分析軟件,，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單,。

技術(shù)指標(biāo)

測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
測量鍍層：鍍層厚度測量zui薄至0.005微米,，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測量對象狀態(tài)：粉末,、固體、液體
測量時(shí)間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

標(biāo)準(zhǔn)配置

電制冷UHRD探測器
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
精準(zhǔn)的升降平臺(tái)
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器

應(yīng)用領(lǐng)域

鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品,、成品在線控制

磁性材料成分元素檢測儀介紹

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