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當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>技術(shù)文章>>IC芯片缺陷檢測(cè)使用X-RAY檢測(cè)設(shè)備解決方案
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說到我們身邊無(wú)處不在的IC芯片,想必很多人對(duì)它都是不會(huì)感覺到陌生,,比如我們每天都在使用的手機(jī),、電視以及電腦當(dāng)中的芯片,實(shí)際上就是IC芯片,,它被翻譯為中文就是集成電路,,IC芯片的構(gòu)造是大量的微電子元器件比如電容、電阻等形成的集成電路放在基板上,,從而做出一塊芯片,。
IC芯片是如何制作的?
不過,,需要說明一點(diǎn)的就是由于IC芯片主要是由無(wú)數(shù)的微型電子器件以及部件構(gòu)成,,因此,,它是很精密的。通過相應(yīng)的制作工藝,,將一個(gè)電路當(dāng)中所需要的晶體管,、電阻,、電容以及二極管等元件和布線相互連接在一起,,并將其制作在一小塊甚至是幾小塊半導(dǎo)體晶片或者是介質(zhì)基片上面,接下來(lái)封裝在一個(gè)管殼當(dāng)中,,從而成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu),。
傳統(tǒng)芯片檢測(cè)的弊端
值得一提的是在整個(gè)制作的過程當(dāng)中,所有的元件在結(jié)構(gòu)上面已經(jīng)組成了一個(gè)整體,,從而將電子元件向著微小型化以及低功耗,、高可靠性上面前進(jìn)了一大步。當(dāng)然了,,由于越是精密的電路,,它的檢測(cè)難度就會(huì)越高。目前,,國(guó)內(nèi)在對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候,,往往所采用的是把芯片層層剝開的方式,然后再使用電子顯微鏡對(duì)芯片的每一層表面進(jìn)行拍攝,。這種傳統(tǒng)的檢測(cè)對(duì)于芯片會(huì)帶來(lái)一定的破壞性,。直到X-RAY無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的出現(xiàn),這樣的尷尬才算是得到了*的解決,。
X-RAY檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)
作為當(dāng)下市面上的一種主流檢測(cè),,X-RAY檢測(cè)主要使用的是X光機(jī)產(chǎn)生的X射線對(duì)芯片表面進(jìn)行照射,由于X射線的穿透力*,,在穿透芯片之后能夠成像,,這樣就能把芯片的內(nèi)部缺陷一覽無(wú)遺了。此外,,X光對(duì)芯片檢測(cè)是沒有任何的損傷的,,因此,它也被稱之為無(wú)損探傷檢測(cè),。除了能夠?qū)π酒M(jìn)行檢測(cè)之外,,鋰電池、LED燈珠,、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的缺陷檢測(cè)都是可以通過它來(lái)進(jìn)行X-RAY的檢測(cè),。
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