昕銳X1200Pro測距儀

昕銳X1200Pro測距儀技術參數(shù)

激光測距儀測量法具有以下優(yōu)點。

　?、倩谙蛭矬w發(fā)射能量,，不存在盲區(qū)(Missing part)。

　?、趯ξ矬w表面性質(顏色,、質地、紋理)不加限制,。

　?、劭芍苯舆M行測量。

　?、軣o需取得圖像及對圖像作分析處理,。

969年，Hildebrand和Haines從相干光學的觀點出發(fā),，提出了一種采用雙波長光源的全信息等高技術,。它可以在物體上生成等高線，等高線的分辨率取決于光源波長,，且不能任意變化,。Hildebrand和Haines提出的另一種方法是由兩個具有不同波長的點光源產(chǎn)生的干涉條紋在物體上生成等高線，與種方法相比,，第二種方法產(chǎn)生的等高線圖的分辨率可以從波長級變化到忽米級,。對于雙光源系統(tǒng)來說，其主要問題是,，若物體上有一些“漩渦花樣",，特定區(qū)域將不能清晰地描繪出全息等高圖。相關測量法對測量環(huán)境要求*,，一般只能在實驗室條件下測量,，且不易于實現(xiàn)自動化。