德國菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測試儀
XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品介紹
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱,。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量,，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn,、Cu,、Ni 的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用提高了信號計數(shù)率,，使儀器可以達到j(luò)i小的重復(fù)精度和很低的測量下限,。XUV適合測量很薄的鍍層和痕量分析。
在測量的同時,，可以直觀地查看測量點的影像,。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷,，配合可編程的XYZ軸工作臺,，既適合測量平面、大型板材類樣品,，也適合形狀復(fù)雜的樣品,。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置,，進一步方便了樣品的快速定位,。
基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā),，也適合過程控制和實驗室使用,。
XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品特點
帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,，可選鎢管和鉬管,。最高工作條件：50 kV, 50W
X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
準(zhǔn)直器：4個，可自動切換,，從直徑0.1mm到3mm
基本濾片：6個,，可自動切換
可編程XYZ工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置,。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn),，顯示實際測量點大小,。
可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
商品應(yīng)用
測量輕元素
測量超薄鍍層和痕量分析
常規(guī)金屬分析鑒定
非破壞式寶石分析
太陽能光伏產(chǎn)業(yè)
德國菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測試儀實例應(yīng)用
種類,、來源和真實性,，是評估寶石價值的本質(zhì)特征；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素,。通常,，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會伴隨有鎂和鈉等元素,。另外,，Cr、Fe,、Ga等微量元素也是很重要的,。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。
在多個領(lǐng)域的應(yīng)用中,，非常薄的Al鍍層,、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要,。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯*的提高,。使用XUV來測量這些鍍層，重復(fù)精度僅幾個納米,。
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