EPOCH 650進口超聲波探傷儀缺陷檢測配套探頭鑄鍛鋼件,、高性能,、便攜式、檢測鑄件,、鍛件、鋼板,、金屬腐蝕,、塑料探傷儀,、而且性價比高,。

EPOCH 650數(shù)字式超聲探傷儀將奧林巴斯先行業(yè)的常規(guī)探傷性能及儀器小巧便攜、操作直觀的特點融合在一起,。這款探傷儀具有高效的菜單功能和快捷鍵訪問功能，為檢測人員提供了一種操作起來極為簡便的的缺陷檢測平臺,。

機型設計適用于所有檢測環(huán)境

EPOCH 650型儀器可用于大多數(shù)檢測環(huán)境,，其中包括實驗室工作臺上的測試操作，以及條件惡劣,、危險的戶外檢測應用。EPOCH 650型儀器的飛梭旋鈕硬件配置符合IP66侵入保護評級的要求,，瀏覽鍵區(qū)硬件配置符合IP67侵入保護評級的要求，此外,，儀器還通過了極其嚴格的環(huán)境和可靠性標準的測試,。操作人員在任何檢測環(huán)境中使用這款儀器,，都會對儀器的操作性能及耐用性能信心十足,。

主要特性

• 設計符合EN12668-1要求

• PerfectSquare可調方波脈沖發(fā)生器

• 全屏A掃描模式

• 數(shù)字式高動態(tài)范圍接收器

• 用于加強信噪比的30個數(shù)字式濾波器

• 2 kHz PRF，用于快速掃查

• 飛梭旋鈕或瀏覽鍵區(qū),，用于調整配置

• 陽光下可讀的寬屏、全VGA顯示

• 使用電池可工作15小時以上

• 標準動態(tài)DAC/TCG和機載DGS/AVG

• 多個機載報告格式

• microSD存儲卡,，用于數(shù)據(jù)傳輸

• 帶有編碼B掃描的可選腐蝕模塊軟件

• USB（OTG）端口，用于與PC機通信

• 報警和VGA輸出

• 可選模擬輸出

EPOCH 650型儀器是一款輕重量,、易攜帶的探傷儀,，其堅固,、靈活的特點使其可用于幾乎所有檢測環(huán)境中。這款儀器的一些主要外觀特性如下：

寬屏,、全VGA分辨率、透反顯示,，無論在室內(nèi)光線還是直射的陽光下都可顯示明亮清晰的圖像,。
儀器的4角處裝有橡膠二次注模保護套,，起到防撞擊、抗磨損的作用,。
4個拴系胸掛帶的連接點,。
無需使用工具即可打開的電池艙和側邊的I/O蓋。
用于持續(xù)穩(wěn)固地放置儀器的支架,，帶有直角彎鉤，可在0度到180度之間變換直立的角度,。
儀器側面的USB OTG接口及可插拔存儲卡的接口上帶有密封的艙蓋,。
標準內(nèi)置充電鋰離子電池,。
重量極輕，設計符合人體工程學,，增加了儀器的便攜性和使用的方便性。
標準配置

EPOCH 650進口超聲波探傷儀缺陷檢測配套探頭鑄鍛鋼件數(shù)字式超聲探傷儀,，AC電源操作或電池操作
適配器/AC適配器（100 VAC、115 VAC,、230 VAC，50 Hz或60 Hz）
充電鋰離子電池
儲運箱
USB線纜
簡易入門說明書
信息全面的操作手冊（CD）
儀器的輸入/輸出
USB端口  USB（OTG）端口
RS-232端口  有
視頻輸出  標準VGA輸出
模擬輸出  1個模擬輸出（可選）,，可選的1 V/10 V全標度，最大4 mA
報警輸出  3個報警輸出,，5V TTL,，10 mA
觸發(fā)器I/O  觸發(fā)器輸入為5V TTL,；
觸發(fā)器輸出為5V TTL，最大10 mA
編碼器輸入  單軸編碼器線（正交,，僅適用于腐蝕模塊模式）
環(huán)境評級
IP評級
根據(jù)IEC 60529-2004（外殼防護等級– IP規(guī)范）標準，瀏覽鍵區(qū)硬件設計符合IP67侵入保護評級標準,，飛梭旋鈕硬件設計符合IP66侵入保護評級標準。

在新開發(fā)的產(chǎn)品正式投入生產(chǎn)以前,，奧林巴斯要對產(chǎn)品的設計進行內(nèi)部檢驗,。這款儀器經(jīng)測試證明符合IP評級標準,。
爆炸性氣氛
 通過了標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試,，可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中規(guī)定的爆炸性氣氛中安全操作,。
防撞擊測試
 通過了標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每個軸6個循環(huán),，15 g,，11 ms半弦波,。
防振動測試
 通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時,。
工作溫度 –10°C～50°C
電池存儲溫度 0°C～50°C
技術規(guī)格
一般規(guī)格
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）  236 mm x 167 mm x 70 mm
重量  1.6公斤，包括鋰離子電池
鍵區(qū)  英文,、國際符號,、日文,、中文
語言  英語,、西班牙語、法語,、德語,、日語,、中文、葡萄牙語和俄語
探頭接口  BNC接口或LEMO 接口
數(shù)據(jù)存儲  機載100000個ID編碼,，可插拔2 GB microSD卡（標準）
電池類型  單個鋰離子電池，可充電,，標準型
電池供電時間  15小時到16小時（鋰離子）
電源要求  AC主電源：100 VAC ～ 120 VAC,、200 VAC ～ 240 VAC,，50 Hz ～ 60 Hz
顯示器類型  全VGA（640 x 480像素）透反彩色LCD，60 Hz更新速率
顯示屏尺寸（寬 x 高,，對角線）  117 mm x 89 mm, 146 mm
脈沖發(fā)生器
脈沖發(fā)生器  可調方波
PRF  10 Hz ～ 2000 Hz,，增量為10 Hz。
能量設置  100 V,、200 V、300 V或400 V
脈沖寬度  25 ns ～ 5000 ns（0.1 MHz）范圍內(nèi)可調,，利用PerfectSquare技術
阻尼  50、100,、200,、400 Ω
接收器
增益  0 dB ～ 110 dB
最大輸入信號  20 V P-P
接收器輸入阻抗  400 Ω ± 5%
接收器帶寬  0.2 MHz ～ 26.5 MHz,，–3 dB
數(shù)字式濾波器設置  30個標準數(shù)字式濾波器設置
7個符合EN12668-1:2010標準的濾波設置（0.2-10 MHz、2.0-21.5 MHz,、8.0-26.5 MHz、0.5-4 MHz,、0.2-1.2 MHz,、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz）
檢波  全波,、正半波、負半波,、射頻波
系統(tǒng)線性  水平：±0.5 % FSW
分辨率  0.25 % FSH，放大器精度為±1 dB
抑制  0 % ～ 80 %滿屏高,，帶有可視警告
波幅測量  0 % ～ 110 %滿屏高，分辨率為0.25 %
測量速率  在所有模式下,，相當于PRF
校準
自動校準  聲速、零位偏移,、
垂直聲束（*個底面回波，或回波到回波）,、角度聲束（聲程或者深度）
檢測模式  脈沖回波、雙晶或穿透
單位  毫米、英寸或微秒
范圍  3.36 mm to 13388 mm,，5,900 m/s
聲速  635 m/s to 15240 m/s
零位偏移  0 μs ～ 750 μs
顯示延遲  -59 mm to 13401 mm，鋼中縱波聲速
折射角度  0° ～ 90°,，增量為0.1°。
閘門
測量閘門  ２個*獨立的閘門,，用于波幅和渡越時間（TOF）測量,。
閘門起點  在整個顯示范圍內(nèi)可變
閘門寬度  在從閘門起點到顯示范圍的終點之間的區(qū)域內(nèi)可變
閘門高度  在2 % ～ 95 %滿屏高范圍內(nèi)可變,。
報警  正閾值和負閾值，最小深度（閘門1和閘門2）
測量
測量顯示位置  5個位置（手動或自動選擇）
閘門（1和2）  厚度,、聲程、投射,、深度,、波幅,、渡越時間、最小/最大深度,、最小/最大波幅
回波到回波  標準閘門2到閘門1，可選界面閘門跟蹤
其它測量  DGS/AVG的上沖值（dB）,、DGS/AVG的ERS（等效反射體大?。?、AWS D1.1/D1.5的A,、B、C和D值定級,、抑制值、回波到參考dB值,。
DAC/TCG  標準
DAC點  多達50個點,，110 dB動態(tài)范圍
特殊DAC模式  自定義DAC（最多6條曲線）,，20 % ～ 80 %視圖
曲面校正  用于角度聲束測量的標準外徑或棒材校正,。
腐蝕（可選）  交叉零點測量算法,、V聲程校正、單一回波,、回波到回波,，或編碼B掃描
軟件選項

• EP650-TEMPLATE (Q1400002)：模板存儲
• EP650-API5UE (Q1400003)：API 5UE缺陷定量
• EP650-AVERAGE (Q1400004)：波形平均
• EP650-IG (Q1400005)：界面閘門
• EP650-BEA (Q1400006)：底面回波衰減器（BEA）
• EP650-CORRSN (Q1400001)：腐蝕模塊（包含編碼B掃描）