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2018年上半年，菲唐檢測(cè)設(shè)備限公司結(jié)合市場(chǎng)上客戶(hù)需要,，開(kāi)發(fā)出探針頂針荷重阻抗行程試驗(yàn)機(jī)。目前中國(guó)的實(shí)體經(jīng)濟(jì)由于用人成本的增加，加上人員難招難管理,，已經(jīng)開(kāi)始慢慢向自動(dòng)化或半自動(dòng)化方向發(fā)展。自動(dòng)化的程度提高,，在檢測(cè)方面會(huì)使用到大量的頂針探針以測(cè)試電子設(shè)備的一些性能指標(biāo),。所以對(duì)頂針探針的一些測(cè)試指標(biāo)就有所要求。

頂針探針是通過(guò)自身的彈性接觸面以及力度來(lái)保證與電子產(chǎn)品的有效接觸,。彈力太小或太大,、接觸電阻太大,、行程不符合要求都會(huì)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響。所以就需要對(duì)此些數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),，甚至于進(jìn)行全檢,。探針目前大致分類(lèi)情況如下：

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路,、短路檢測(cè)探針,，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；B,、在線(xiàn)測(cè)試探針：PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測(cè)探針,；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品,；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠(chǎng)商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn),。

綜上述,，小小的探針但技術(shù)要求是挺高的。目前我司與國(guó)內(nèi)諸多客戶(hù)有合作,，交付探針荷重阻抗行程試驗(yàn)機(jī),。可以測(cè)試探針的荷重-行程-電阻數(shù)據(jù),。同時(shí)還可以做壽命測(cè)試,。有需要可以L(fǎng)X我們。此種機(jī)器在硬件上面還是有諸多要求,，因?yàn)榻佑|電阻小,，我們需要盡可能減少治具產(chǎn)生的阻抗誤差。

若需要探針阻抗彈力行程試驗(yàn)機(jī)資料,！