步入式恒溫恒濕測試室常用于通訊,、光電,、LED、電子等產(chǎn)品（如：光電產(chǎn)品,、機算機整機或零配件,、顯示器、觸摸屏,、終端機,、車用電子產(chǎn)品、主機板,、電源供應(yīng)器,、監(jiān)視器、交換式充電器,、手機,、電腦、照相機,、電話機等）仿真出一種高溫、低溫,、高低溫交變,、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設(shè)備,。

步入式恒溫恒濕測試室技術(shù)參數(shù)：

一,、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃； B：-20℃,； C：-40℃,； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗室的溫度范圍）

二、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對溫濕度圖請參考報價方案）

三,、波動度 ： ≤±0.5℃,；均勻度≤±2℃

四、試驗室控制精度 ：溫度±0.2℃,、濕度±2％R.H,；

五、試驗室溫度解析精度：0.01℃,、試驗室濕度解析精度：0.1%R.H

六,、試驗室溫度均勻度：±2℃,；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七,、溫度波動度：±0.5℃ （空載時）

八,、安全保護裝置：超溫保護，防干燒保護,，無熔絲開關(guān),，缺水保護，液位保護,，保險絲,，壓縮機超壓、過熱,、過電流保護等眾保護裝置24小時保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作,。

九、試驗室滿足與執(zhí)行標準如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件,；

GB/T11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件,；

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫,；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗,；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）