步入式恒溫恒濕測(cè)試室常用于通訊,、光電,、LED、電子等產(chǎn)品（如：光電產(chǎn)品,、機(jī)算機(jī)整機(jī)或零配件,、顯示器、觸摸屏,、終端機(jī),、車(chē)用電子產(chǎn)品、主機(jī)板,、電源供應(yīng)器、監(jiān)視器,、交換式充電器,、手機(jī)、電腦,、照相機(jī),、電話機(jī)等）仿真出一種高溫、低溫,、高低溫交變,、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。

步入式恒溫恒濕測(cè)試室技術(shù)參數(shù)：

一,、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃,； B：-20℃； C：-40℃,； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗(yàn)室的溫度范圍）

二,、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對(duì)溫濕度圖請(qǐng)參考報(bào)價(jià)方案）

三、波動(dòng)度 ： ≤±0.5℃,；均勻度≤±2℃

四,、試驗(yàn)室控制精度 ：溫度±0.2℃、濕度±2％R.H,；

五,、試驗(yàn)室溫度解析精度：0.01℃、試驗(yàn)室濕度解析精度：0.1%R.H

六,、試驗(yàn)室溫度均勻度：±2℃,；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七,、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）

八,、安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)，防干燒保護(hù),，無(wú)熔絲開(kāi)關(guān),，缺水保護(hù)，液位保護(hù),，保險(xiǎn)絲,，壓縮機(jī)超壓、過(guò)熱,、過(guò)電流保護(hù)等眾保護(hù)裝置24小時(shí)保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作,。

九、試驗(yàn)室滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；

GB/T11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；

GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫,；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn),；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）