XRF- X熒光光譜儀產(chǎn)品介紹

是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速,、,、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),，可對Si,、P、S,、Al,、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr,、Ni,、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短,，大大提高了檢測效率和工作效率的作用,。
另外，在合金分析,、全元素分析,、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管,，指標達到水平
新的數(shù)字多道技術,，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS,，精度更高,。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性,、能量分辨率和能譜特性,，較高的峰背比
天瑞儀器產(chǎn)品&mdash信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素,，對Si,、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收,、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓,、管流、真空度）一目了然

技術參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm&mdash99.99（不同元素,，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.05 （含量高于96以上的樣品,、21次測試穩(wěn)定性）
測量時間：30秒200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV50KV
管流：50&muA1000&muA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體,、液體
輸入電壓：AC 110V220V
環(huán)境溫度：15℃30℃
環(huán)境濕度：3570
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置XRF- X熒光光譜儀

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領域

XRF-X熒光光譜儀廣泛應用于合金檢測,、全元素分析、有害元素檢測（RoHS,、鹵素） ,、鍍層檢測等行業(yè)。