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產(chǎn)品型號EHM-X200

品牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地蘇州市

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更新時(shí)間：2025-01-20 20:03:33瀏覽次數(shù)：937次

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產(chǎn)品分類品牌分類

分析儀

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

EHM-X200大氣重金屬分析儀是天瑞儀器*的雙功能全自動(dòng)在線分析儀器。它創(chuàng)新地將技術(shù)——X射線熒光（XRF）無損檢測技術(shù),、β射線吸收檢測技術(shù)與空氣顆粒物自動(dòng)富集技術(shù)*結(jié)合,，不僅可以監(jiān)測空氣顆粒物質(zhì)量濃度, 還可以同時(shí)對顆粒物中元素成分進(jìn)行定量分析,。該儀器具有pg/m3 量級的檢出限，處于世界水平,，廣泛應(yīng)用于空氣質(zhì)量監(jiān)測,、污染溯源及源解析、環(huán)境評價(jià)等領(lǐng)域,。

詳情介紹

大氣重金屬分析儀產(chǎn)品介紹

EHM-X200是天瑞儀器全球*的雙功能全自動(dòng)在線分析儀器,。它創(chuàng)新地將技術(shù)——X射線熒光（XRF）無損檢測技術(shù)、β射線吸收檢測技術(shù)與空氣顆粒物自動(dòng)富集技術(shù)*結(jié)合,，不僅可以監(jiān)測空氣顆粒物質(zhì)量濃度, 還可以同時(shí)對顆粒物中元素成分進(jìn)行定量分析,。該儀器具有pg/m3 量級的檢出限，處于世界水平,，廣泛應(yīng)用于空氣質(zhì)量監(jiān)測,、污染溯源及源解析、環(huán)境評價(jià)等領(lǐng)域,。

測量原理

儀器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中,，以PM2.5為例，動(dòng)力學(xué)直徑在2.5um附近及以下的顆粒污染物進(jìn)入到儀器的富集系統(tǒng)中,。經(jīng)過一段時(shí)間的富集后,，富集系統(tǒng)自動(dòng)切換成β射線分析系統(tǒng)，利用β射線的衰減與顆粒物的質(zhì)量濃度成指數(shù)的關(guān)系,，對顆粒物的質(zhì)量濃度進(jìn)行分析,。然后卷膜系統(tǒng)地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動(dòng)到X射線熒光分析系統(tǒng)，分別利用X射線熒光的能量和強(qiáng)度對顆粒物中的元素成分進(jìn)行定性和定量的分析,。

X射線熒光光譜技術(shù)（XRF）的原理見圖3所示,，可以直接檢測固體或液體樣品中ppm量級的元素成分。采用富集后再檢測的辦法,，使得XRF技術(shù)對空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測限優(yōu)于0.001ug/m3,。而常規(guī)實(shí)驗(yàn)室的檢測技術(shù)，由于預(yù)處理消解過程中需要將微克量級的樣品溶解到幾十克的液體中,，而使得濃度被稀釋百萬倍,，從而多數(shù)儀器（譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀）無法檢出元素含量低于10ug/m3量級的空氣顆粒物樣品,。

性能特點(diǎn)

（1）空氣顆粒物濃度,、大氣重金屬濃度一體式協(xié)同測量，為污染溯源及源解析提供更數(shù)據(jù)；
（2）TSP,、PM10,、PM2.5三種切割器可供用戶選擇，應(yīng)用于不同的環(huán)境評價(jià)場合,；
（3）鉛,、鎘、砷等30多種重金屬含量測量,，檢出限在pg/m3量級,；
（4）從光管、探測器,、數(shù)字多道分析器（DCMA）到整機(jī),，數(shù)十項(xiàng)XRF核心技術(shù)發(fā)明；
（5）具有技術(shù)和測試報(bào)告,，儀器的可靠性,、性得到充分驗(yàn)證。

大氣重金屬分析儀技術(shù)參數(shù)

以下列出了的一些重要技術(shù)參數(shù)（表1）,。

表1 天瑞儀器 EHM-X200技術(shù)參數(shù)

名稱	性能參數(shù)及要求
檢測技術(shù)	(1)重金屬的測量方法基于美國EPA方法IO-3.3的非破環(huán)性X射線熒光(XRF)原理,； (2)顆粒物質(zhì)量濃度的測量方法基于《環(huán)境空氣顆粒物（PM10和PM2.5）連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)技術(shù)要求及檢測方法》（β射線吸收法）；
測試內(nèi)容	（1）可監(jiān)測TSP/PM10/PM2.5空氣顆粒物（PM）質(zhì)量總濃度,；（2）可同時(shí)監(jiān)測Pb(鉛),、Cu（銅）、Cd（鎘）,、Hg（汞）,、As（砷）、Cr（鉻）,、Zn（鋅）,、Ni（鎳）、Ba（鋇）,、Fe（鐵）,、Ag（銀）、Se（硒）,、Br（溴）、Te(碲),、Sb（銻）,、Sn（錫）、Ti（鈦）,、Co（鈷）,、Mn（錳）、Pd（鈀）、,、Sc (鈧) ,、Mo（鉬）、V（釩）,、Cs（銫）,、Ga（鎵）、Ca（鈣）,、K（鉀）,、Sr（鍶）、Cl（氯）30種元素,并可按用戶要求擴(kuò)展測量其它元素,；
測量結(jié)果	用戶可以自由選擇如下三種測量結(jié)果：（1）單位體積內(nèi)的重金屬（或顆粒物）質(zhì)量濃度,，μg/m3；（2）單位質(zhì)量顆粒物中的重金屬質(zhì)量濃度,，mg/kg,；（3）重金屬在顆粒物中的百分比，%,。
檢測范圍	重金屬,，0～100μg/m3；顆粒物質(zhì)量濃度,，0～10 mg/m3
檢出限	pg/m3量級 (采樣時(shí)間4小時(shí),、流速16.7L/min)； PM：<0.5μg/m3（24小時(shí)平均值）
重現(xiàn)性	重金屬,，RSD < 1% （Pb的標(biāo)準(zhǔn)樣片）,； PM質(zhì)量濃度 < ±2%（標(biāo)稱值,標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量膜）
采樣分析時(shí)間	30～1440分鐘連續(xù)采樣，可自定義,。采樣流量(0～20)L/min 可調(diào)節(jié),，DHS 動(dòng)態(tài)加熱。采樣與分析同時(shí)進(jìn)行,，無采樣間隔,。支持整點(diǎn)模式（每小時(shí)整點(diǎn)出數(shù)據(jù)，且每小時(shí)采樣富集時(shí)間不低于55分鐘）
采樣濾膜	采樣濾膜為PTFE濾紙材質(zhì),，對0.3μm顆粒物的截留效率≥99.7% ,，不含重金屬元素成分；
安全防護(hù)	輻射劑量符合《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》規(guī)定,，具有相關(guān)部門X射線表面輻射劑量檢測報(bào)告,距離機(jī)箱5cm處,，輻射劑量小于2.5μGy/h；
質(zhì)控要求	（1）儀器具備流量自動(dòng)校準(zhǔn)功能,；（2）具備光管強(qiáng)度自校準(zhǔn)功能和能量刻度自動(dòng)校準(zhǔn)功能
分析軟件	（1）提供設(shè)備配套數(shù)據(jù)分析管理軟件,，開放通訊協(xié)議,，可接入已有數(shù)采平臺(tái)；中文操作界面,，觸摸屏操作,，顯示實(shí)時(shí)采樣流量，采樣時(shí)間,，測量狀態(tài),，重金屬濃度值、含量曲線等信息,。（2）數(shù)據(jù)符合《污染源在線自動(dòng)監(jiān)控（監(jiān)測）系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸標(biāo)準(zhǔn)》（HJ/T 212-2005）,。（3）數(shù)據(jù)庫開放，便于用戶對數(shù)據(jù)庫軟件的二次開發(fā)和利用