X熒光光譜儀_ 天瑞儀器 

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率,，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準,。SDD探測器具有良好的能量線
性,、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性,，較高的峰背比,；對Si、S,、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度,。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①化的樣品腔設計,，帶可調速的自旋樣品腔,，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度,。
②采用超小超真空的樣品腔設計,，測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試,，大大地提高測試范圍,、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快,，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術,，其線性計數(shù)率可達100kcps，可以更加快速的分析,，從第1秒就可以得出定性定量結果,，
設計成高計數(shù)率，大大提高了設備的穩(wěn)定性,。

4. 一鍵式智能化操作
軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,，具有高靈敏度,、測試時間短,、一鍵智能化操作，使操作簡易,，對操作人員限制小的特點,。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋,、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩(wěn)譜裝置,，了儀器工作的*性：利用解譜技術使譜峰分解,，采用多參數(shù)的線性回歸方法,，使元素間的吸收,、排斥效應得到明顯的降低,。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式的自由添加,，內置強度校正方法,，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差,。

7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng),，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,，自動感應,，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏,；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩,。

9. 安全警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍,，防止誤操作。

X熒光光譜儀_ 天瑞儀器 儀器配置

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數(shù)字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術參數(shù)

型號：EDX3600K
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種,，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器,，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下
濾光片：6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說,，檢出限達5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術,，快速分析,，高計數(shù)率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計,，自帶壓環(huán),，可防止樣品晃動
數(shù)字多道技術：計數(shù)率>50kcps，有效計數(shù)率高500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm,，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

軟件優(yōu)勢

采用公司新的能譜EDXRF軟件,，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度,、測試時間短,、一鍵智能化操作,，操作簡易,，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數(shù)目模式自由添加,，內置強度校正方法,，可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
的軟件界面和內核,，采用FP和EC軟件組合的方法,，應用面更加廣泛